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Journey to Data Quality - Couverture souple

 
9780262513357: Journey to Data Quality

Synopsis

A guide for assessing an organization's data quality practice and a roadmap for implementing a viable data and information quality management program, based on rigorous research and drawing on real-world examples.

All organizations today confront data quality problems, both systemic and structural. Neither ad hoc approaches nor fixes at the systems leve—installing the latest software or developing an expensive data warehouse—solve the basic problem of bad data quality practices. Journey to Data Quality offers a roadmap that can be used by practitioners, executives, and students for planning and implementing a viable data and information quality management program. This practical guide, based on rigorous research and informed by real-world examples, describes the challenges of data management and provides the principles, strategies, tools, and techniques necessary to meet them. The authors, all leaders in the data quality field for many years, discuss how to make the economic case for data quality and the importance of getting an organization's leaders on board. They outline different approaches for assessing data, both subjectively (by users) and objectively (using sampling and other techniques). They describe real problems and solutions, including efforts to find the root causes of data quality problems at a healthcare organization and data quality initiatives taken by a large teaching hospital. They address setting company policy on data quality and, finally, they consider future challenges on the journey to data quality.

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À propos de l?auteur

Yang W. Lee is Associate Professor at the Information, Operations, and Analysis Group in the College of Business Administration at Northeastern University.

Leo L. Pipino is Professor Emeritus of Management Information Systems at the University of Massachusetts, Lowell.

Richard Y. Wang is Director of the MIT Information Quality Program (MITIQ), Codirector of the Total Data Quality Management Program at MIT (MIT TDQM), and University Professor at the University of Arkansas at Little Rock, where the first master's degree program in Information Quality has been established.

James D. Funk is Founder and Chief Information Architect at Beyond Accuracy, LLC.

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  • ÉditeurThe MIT Press
  • Date d'édition2009
  • ISBN 10 0262513358
  • ISBN 13 9780262513357
  • ReliureBroché
  • Langueanglais
  • Nombre de pages240
  • Coordonnées du fabricantnon disponible

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9780262122870: Journey to Data Quality

Edition présentée

ISBN 10 :  0262122871 ISBN 13 :  9780262122870
Editeur : The MIT Press, 2006
Couverture rigide

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Yang W Lee, Leo L Pipino, James D Funk, Richard Y Wang
Edité par MIT Press 00/p /18 S, 2009
ISBN 10 : 0262513358 ISBN 13 : 9780262513357
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Yang W Lee, Leo L Pipino, James D Funk, Richard Y Wang
Edité par MIT Press 18 S, 2009
ISBN 10 : 0262513358 ISBN 13 : 9780262513357
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Lee, Yang W., Pipino, Leo L., Wang, Richard Y., Funk, James
Edité par The MIT Press, 2009
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Edité par Mit Pr (edition Reprint), 2009
ISBN 10 : 0262513358 ISBN 13 : 9780262513357
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Lee, Yang W.; Pipino, Leo L.; Funk, James D.; Wang, Richard Y.
Edité par Mit Pr, 2009
ISBN 10 : 0262513358 ISBN 13 : 9780262513357
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Edité par Mit Pr, 2009
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Edité par The MIT Press, 2009
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Vendeur : dsmbooks, Liverpool, Royaume-Uni

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Lee, Yang W.
Edité par Mit Pr, 2009
ISBN 10 : 0262513358 ISBN 13 : 9780262513357
Ancien ou d'occasion paperback

Vendeur : Textbooks_Source, Columbia, MO, Etats-Unis

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Lee, Yang W.; Pipino, Leo L.; Funk, James D.; Wang, Richard Y.
Edité par Mit Pr, 2009
ISBN 10 : 0262513358 ISBN 13 : 9780262513357
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Vendeur : Your Online Bookstore, Houston, TX, Etats-Unis

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LEE, YANG W. ET AL
Edité par MIT PRESS, 2009
ISBN 10 : 0262513358 ISBN 13 : 9780262513357
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Vendeur : OM Books, Sevilla, SE, Espagne

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