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Synopsis
Whole Pattern Fitting, Rietveld Analysis, and Calculated Diffraction Patterns. Quantitative Phase Analysis by XRay Diffraction (XRD). Thin Film and Surface Characterization by XRD. Lattice Defects and XRay Topography. Texture Analysis by XRD. XRD Instrumentation, Techniques, and Reference Materials. Stress Determination by Diffraction Methods. XRD Profile Fitting, Crystallite Size and Strain Determination. XRD Applications: Detection Limits, Superconductors, Organics, Minerals. Mathematical Methods in XRay Spectrometry (XRS). Thin Film and Surface Characterization by XRS and XPS. Total Reflection XRS. XRS Techniques and Instrumentation. XRS Applications. XRay Imaging and Tomography. 161 articles. Index.
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- ÉditeurKluwer Academic/Plenum Publishers
- Date d'édition1992
- ISBN 10 0306442493
- ISBN 13 9780306442490
- ReliureRelié
- Langueanglais
- Nombre de pages1334
- ÉditeurBarrett Charles S., Gilfrich John V., Huang Ting C., Jenkins Ron, McCarthy G. J., Predecki Paul K., Ryon R., Smith Deane K.
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Advances in X-Ray Analysis, Vol. 35A and 35B
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Springer, 1992
ISBN 10 : 0306442493
ISBN 13 : 9780306442490
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Advances in X-Ray Analysis, Vol. 35
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Advances in X-Ray Analysis
Edité par
Springer, Berlin, 1992
ISBN 10 : 0306442493
ISBN 13 : 9780306442490
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