EMC Analysis Methods and Computational Models

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9780471155737: EMC Analysis Methods and Computational Models

Book by Tesche Frederick M Ianoz Michel Karlsson Torbj246r

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Quatrième de couverture :

A comprehensive reference on state–of–the–art EMC modeling.

The problems of electromagnetic interference are as old as radio wave communication. Only recently, however, has progress in numerical computation permitted the creation of models that help explain the physical phenomena of EM interference and predict and mitigate their effects. These models also invite an approach to solving EMC problems that furthers an understanding of underlying principles. EMC Analysis Methods and Computational Models provides detailed descriptions of the formulation, development, analysis, and use of EMC models.

Departing from the rules–of–thumb approach for predicting electromagnetic interference, this book covers every step in the development of computational models––from the electromagnetic topology of the system to the development of coupling, penetration, and propagation models that describe the behavior of energy within the system. Supported by numerous illustrations, it
∗ Covers circuit theory, low–frequency coupling, discrete source radiation, transmission line propagation, EM field penetration through apertures, diffusion, and shielding.
∗ Discusses the approximations necessary in model development and contrasts approximate models with more rigorous models.
∗ Includes exercises that elaborate the theory behind the models and indicate practical applications.
∗ Provides computer programs based on models developed in the text.

For practicing engineers, researchers, and graduate students, this book broadens the base of knowledge about the principles of EMC and lays the foundation for future research in the field.

Présentation de l'éditeur :

Describes and illustrates various modeling techniques which are applicable to the area of EMC and includes material previously available only in international reports or other hard–to–obtain references. Electromagnetic topology, lumped–parameter circuit models, the radiation process, scalar diffraction theory for apertures, transmission line modeling, and models for shielding are among the topics discussed. The accompanying disk contains four programs based on the models developed in the text and can be used to calculate diverse transmission line responses.

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Frederick M. Tesche, Michel V. Ianoz, Torbjorn Karlsson
Edité par John Wiley Sons Inc, United States (1997)
ISBN 10 : 047115573X ISBN 13 : 9780471155737
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Description du livre John Wiley Sons Inc, United States, 1997. Hardback. État : New. 1. Auflage. 239 x 157 mm. Language: English . Brand New Book. Describes and illustrates various modeling techniques which are applicable to the area of EMC and includes material previously available only in international reports or other hard-to-obtain references. Electromagnetic topology, lumped-parameter circuit models, the radiation process, scalar diffraction theory for apertures, transmission line modeling, and models for shielding are among the topics discussed. The accompanying disk contains four programs based on the models developed in the text and can be used to calculate diverse transmission line responses. N° de réf. du libraire AAH9780471155737

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Frederick M. Tesche
Edité par Wileyand#8211;Blackwell (1997)
ISBN 10 : 047115573X ISBN 13 : 9780471155737
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Description du livre Wileyand#8211;Blackwell, 1997. HRD. État : New. New Book. Shipped from UK in 4 to 14 days. Established seller since 2000. N° de réf. du libraire FW-9780471155737

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Frederick M. Tesche, Michel V. Ianoz, Torbjorn Karlsson
Edité par John Wiley Sons Inc, United States (1997)
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The Book Depository US
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Frederick M. Tesche, Michel Ianoz, Torbjörn Karlsson, Torbjorn Karlsson
Edité par Wiley-Interscience (1996)
ISBN 10 : 047115573X ISBN 13 : 9780471155737
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Tesche
Edité par John Wiley & Sons (2016)
ISBN 10 : 047115573X ISBN 13 : 9780471155737
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Description du livre John Wiley & Sons, 2016. Paperback. État : New. PRINT ON DEMAND Book; New; Publication Year 2016; Not Signed; Fast Shipping from the UK. No. book. N° de réf. du libraire ria9780471155737_lsuk

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Frederick M. Tesche
Edité par Wileyand#8211;Blackwell (1997)
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Tesche, Frederick M., Ianoz, Michel, Kar
Edité par Wiley-Interscience (2017)
ISBN 10 : 047115573X ISBN 13 : 9780471155737
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Frederick M. Tesche
ISBN 10 : 047115573X ISBN 13 : 9780471155737
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Description du livre 1996. Hardcover. État : New. 1st. 164mm x 37mm x 243mm. Hardcover. Describes and illustrates various modeling techniques which are applicable to the area of EMC and includes material previously available only in international reports or other hard-to-obta.Shipping may be from multiple locations in the US or from the UK, depending on stock availability. 656 pages. 1.107. N° de réf. du libraire 9780471155737

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Tesche, Frederick M.; Ianoz, Michel; Karlsson, Torbjörn
Edité par Wiley-Interscience (1996)
ISBN 10 : 047115573X ISBN 13 : 9780471155737
Neuf(s) Couverture rigide Quantité : 10
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