Ionizing Radiation Effects in MOS Devices and Circuits

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9780471848936: Ionizing Radiation Effects in MOS Devices and Circuits

The first comprehensive overview describing the effects of ionizing radiation on MOS devices, as well as how to design, fabricate, and test integrated circuits intended for use in a radiation environment. Also addresses process-induced radiation effects in the fabrication of high-density circuits. Reviews the history of radiation-hard technology, providing background information for those new to the field. Includes a comprehensive review of the literature and an annotated listing of research activities in radiation-hardness research.

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Edité par Wiley-Interscience (2017)
ISBN 10 : 047184893X ISBN 13 : 9780471848936
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ISBN 10 : 047184893X ISBN 13 : 9780471848936
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Description du livre John Wiley Sons Inc, United States, 1989. Hardback. État : New. Language: English . Brand New Book. The first comprehensive overview describing the effects of ionizing radiation on MOS devices, as well as how to design, fabricate, and test integrated circuits intended for use in a radiation environment. Also addresses process--induced radiation effects in the fabrication of high--density circuits. Reviews the history of radiation--hard technology, providing background information for those new to the field. Includes a comprehensive review of the literature and an annotated listing of research activities in radiation--hardness research. N° de réf. du libraire AAH9780471848936

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Ma, T. P.
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