Synopsis
Funktionstests an integrierten Schaltungen sind für deren Zuverlässigkeit von herausragender Bedeutung. Erstmals werden in diesem Werk die speziellen Präparationstechniken für die Fehleranalyse beschrieben. Ausgehend von den theoretischen Grundlagen erläutert der Autor in praxisnahem Stil die verschiedenen Techniken, die das Zurückverfolgen von Ausfällen ermöglichen.
Les informations fournies dans la section « Synopsis » peuvent faire référence à une autre édition de ce titre.
À propos de l?auteur
Friedrich Beck is the author of Integrated Circuit Failure Analysis: A Guide to Preparation Techniques, published by Wiley.
Les informations fournies dans la section « A propos du livre » peuvent faire référence à une autre édition de ce titre.
Résultats de recherche pour Integrated Circuit Failure Analysis: A Guide to Preparation...
Image d'archives
Integrated Circuit Failure Analysis: A Guide to Preparation Techniques
Edité par
Wiley, 1998
ISBN 10 : 0471974013
ISBN 13 : 9780471974017
Ancien ou d'occasion
Couverture rigide
Vendeur : Bookmans, Tucson, AZ, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
Hardcover. Etat : Good. . Satisfaction 100% guaranteed. N° de réf. du vendeur mon0002603316
Acheter D'occasion
EUR 59,56
Expédition à EUR 3,44
Expédition nationale : Etats-Unis
Expédition nationale : Etats-Unis
Quantité disponible : 1 disponible(s)
Image d'archives
Integrated Circuit Failure Analysis : A Guide to Preparation Techniques
Edité par
Wiley & Sons, Incorporated, John, 1998
ISBN 10 : 0471974013
ISBN 13 : 9780471974017
Ancien ou d'occasion
Couverture rigide
Vendeur : Better World Books, Mishawaka, IN, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
Etat : Very Good. Pages intact with possible writing/highlighting. Binding strong with minor wear. Dust jackets/supplements may not be included. Stock photo provided. Product includes identifying sticker. Better World Books: Buy Books. Do Good. N° de réf. du vendeur 54619100-6
Acheter D'occasion
EUR 63,10
Livraison gratuite
Expédition nationale : Etats-Unis
Expédition nationale : Etats-Unis
Quantité disponible : 1 disponible(s)
Image d'archives
Integrated Circuit Failure Analysis: A Guide to Preparation Techniques
Edité par
Wiley, 1998
ISBN 10 : 0471974013
ISBN 13 : 9780471974017
Ancien ou d'occasion
Couverture rigide
Vendeur : Phatpocket Limited, Waltham Abbey, HERTS, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
Etat : Good. Your purchase helps support Sri Lankan Children's Charity 'The Rainbow Centre'. Ex-library, so some stamps and wear, but in good overall condition. Our donations to The Rainbow Centre have helped provide an education and a safe haven to hundreds of children who live in appalling conditions. N° de réf. du vendeur Z1-U-016-02515
Acheter D'occasion
EUR 122,91
Expédition à EUR 12,23
Expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-Unis
Expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-Unis
Quantité disponible : 1 disponible(s)
Image d'archives
Integrated Circuit Failure Analysis
Edité par
John Wiley & Sons, 1998
ISBN 10 : 0471974013
ISBN 13 : 9780471974017
Ancien ou d'occasion
Couverture rigide
Vendeur : Buchpark, Trebbin, Allemagne
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
Etat : Gut. Zustand: Gut | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | Fault analysis of highly-integrated semiconductor circuits has become an indispensable discipline in the optimization of product quality. Integrated Circuit Failure Analysis describes state-of-the-art procedures for exposing suspected failure sites in semiconductor devices. The author adopts a hands-on problem-oriented approach, founded on many years of practical experience, complemented by the explanation of basic theoretical principles. Features include: Advanced methods in device preparation and technical procedures for package inspection and semiconductor reliability. ? Illustration of chip isolation and step-by-step delayering of chips by wet chemical and modern plasma dry etching techniques. ? Particular analysis of bipolar and MOS circuits, although techniques are equally relevant to other semiconductors. ? Advice on the choice of suitable laboratory equipment. ? Numerous photographs and drawings providing guidance for checking results. Focusing on modern techniques, this practical text will enable both academic and industrial researchers and IC designers to expand the range of analytical and preparative methods at their disposal and to adapt to the needs of new technologies. N° de réf. du vendeur 1351507/3
Acheter D'occasion
EUR 89,58
Expédition à EUR 105
Expédition depuis Allemagne vers Etats-Unis
Expédition depuis Allemagne vers Etats-Unis
Quantité disponible : 1 disponible(s)
Image d'archives
Integrated Circuit Failure Analysis
Vendeur : PBShop.store UK, Fairford, GLOS, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 4 sur 5 étoiles
HRD. Etat : New. New Book. Shipped from UK. Established seller since 2000. N° de réf. du vendeur FW-9780471974017
Acheter neuf
EUR 192,57
Expédition à EUR 4,78
Expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-Unis
Expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-Unis
Quantité disponible : 15 disponible(s)
Image d'archives
Integrated Circuit Failure Analysis: A Guide to Preparation Techniques (eng)
Vendeur : Brook Bookstore On Demand, Napoli, NA, Italie
Évaluation du vendeur 4 sur 5 étoiles
Etat : new. N° de réf. du vendeur 8339b7859acecc6d135df4ac54f0a465
Acheter neuf
EUR 191,95
Expédition à EUR 5,50
Expédition depuis Italie vers Etats-Unis
Expédition depuis Italie vers Etats-Unis
Quantité disponible : Plus de 20 disponibles
Image fournie par le vendeur
Integrated Circuit Failure Analysis : A Guide to Preparation Techniques
Vendeur : GreatBookPrices, Columbia, MD, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
Etat : New. N° de réf. du vendeur 35531-n
Acheter neuf
EUR 200,93
Expédition à EUR 2,27
Expédition nationale : Etats-Unis
Expédition nationale : Etats-Unis
Quantité disponible : Plus de 20 disponibles
Image fournie par le vendeur
Integrated Circuit Failure Analysis : A Guide to Preparation Techniques
Vendeur : GreatBookPricesUK, Woodford Green, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
Etat : New. N° de réf. du vendeur 35531-n
Acheter neuf
EUR 192,56
Expédition à EUR 17,25
Expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-Unis
Expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-Unis
Quantité disponible : Plus de 20 disponibles
Image d'archives
Integrated Circuit Failure Analysis: A Guide to Preparation Techniques
Vendeur : Ria Christie Collections, Uxbridge, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
Etat : New. In. N° de réf. du vendeur ria9780471974017_new
Acheter neuf
EUR 199,22
Expédition à EUR 13,78
Expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-Unis
Expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-Unis
Quantité disponible : Plus de 20 disponibles
Image fournie par le vendeur
Integrated Circuit Failure Analysis : A Guide to Preparation Techniques
Edité par
Wiley, 1998
ISBN 10 : 0471974013
ISBN 13 : 9780471974017
Ancien ou d'occasion
Couverture rigide
Vendeur : GreatBookPrices, Columbia, MD, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
Etat : As New. Unread book in perfect condition. N° de réf. du vendeur 35531
Acheter D'occasion
EUR 210,86
Expédition à EUR 2,27
Expédition nationale : Etats-Unis
Expédition nationale : Etats-Unis
Quantité disponible : Plus de 20 disponibles