Synopsis
Funktionstests an integrierten Schaltungen sind für deren Zuverlässigkeit von herausragender Bedeutung. Erstmals werden in diesem Werk die speziellen Präparationstechniken für die Fehleranalyse beschrieben. Ausgehend von den theoretischen Grundlagen erläutert der Autor in praxisnahem Stil die verschiedenen Techniken, die das Zurückverfolgen von Ausfällen ermöglichen.
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À propos de l?auteur
Friedrich Beck is the author of Integrated Circuit Failure Analysis: A Guide to Preparation Techniques, published by Wiley.
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Integrated Circuit Failure Analysis: A Guide to Preparation Techniques
Edité par
Wiley, 1998
ISBN 10 : 0471974013
ISBN 13 : 9780471974017
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Integrated Circuit Failure Analysis : A Guide to Preparation Techniques
Edité par
Wiley & Sons, Incorporated, John, 1998
ISBN 10 : 0471974013
ISBN 13 : 9780471974017
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Integrated Circuit Failure Analysis: A Guide to Preparation Techniques (Quality and Reliability Engineering Series)
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Wiley, 1998
ISBN 10 : 0471974013
ISBN 13 : 9780471974017
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Wiley, 1998
ISBN 10 : 0471974013
ISBN 13 : 9780471974017
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Integrated Circuit Failure Analysis
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John Wiley & Sons, 1998
ISBN 10 : 0471974013
ISBN 13 : 9780471974017
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Etat : Gut. Zustand: Gut | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | Fault analysis of highly-integrated semiconductor circuits has become an indispensable discipline in the optimization of product quality. Integrated Circuit Failure Analysis describes state-of-the-art procedures for exposing suspected failure sites in semiconductor devices. The author adopts a hands-on problem-oriented approach, founded on many years of practical experience, complemented by the explanation of basic theoretical principles. Features include: Advanced methods in device preparation and technical procedures for package inspection and semiconductor reliability. ? Illustration of chip isolation and step-by-step delayering of chips by wet chemical and modern plasma dry etching techniques. ? Particular analysis of bipolar and MOS circuits, although techniques are equally relevant to other semiconductors. ? Advice on the choice of suitable laboratory equipment. ? Numerous photographs and drawings providing guidance for checking results. Focusing on modern techniques, this practical text will enable both academic and industrial researchers and IC designers to expand the range of analytical and preparative methods at their disposal and to adapt to the needs of new technologies. N° de réf. du vendeur 1351507/3
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Integrated Circuit Failure Analysis
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Integrated Circuit Failure Analysis : A Guide to Preparation Techniques
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