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Synopsis
CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies covers a broad range of topics related to SRAM design and test. From SRAM operation basics through cell electrical and physical design to process-aware and economical approach to SRAM testing. The emphasis of the book is on challenges and solutions of stability testing as well as on development of understanding of the link between the process technology and SRAM circuit design in modern nano-scaled technologies.
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CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies (Frontiers in Electronic Testing, 40)
Edité par
Springer, 2008
ISBN 10 : 1402083629
ISBN 13 : 9781402083624
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Vendeur : Patrico Books, Apollo Beach, FL, Etats-Unis
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CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies : Process-Aware SRAM Design and Test
Vendeur : GreatBookPrices, Columbia, MD, Etats-Unis
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CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies (Hardcover)
Edité par
Springer-Verlag New York Inc., New York, NY, 2008
ISBN 10 : 1402083629
ISBN 13 : 9781402083624
Neuf
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Hardcover. Etat : new. Hardcover. CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies covers a broad range of topics related to SRAM design and test. From SRAM operation basics through cell electrical and physical design to process-aware and economical approach to SRAM testing. The emphasis of the book is on challenges and solutions of stability testing as well as on development of understanding of the link between the process technology and SRAM circuit design in modern nano-scaled technologies. CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies covers a broad range of topics related to SRAM design and test. From SRAM operation basics through cell electrical and physical design to process-aware and economical approach to SRAM testing. Shipping may be from multiple locations in the US or from the UK, depending on stock availability. N° de réf. du vendeur 9781402083624
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CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies (Frontiers in Electronic Testing, 40)
Vendeur : Lucky's Textbooks, Dallas, TX, Etats-Unis
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CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies (Frontiers in Electronic Testing, 40)
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CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies : Process-Aware SRAM Design and Test
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CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies (Frontiers in Electronic Testing, 40)
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CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies : Process-Aware SRAM Design and Test
Edité par
Springer, 2008
ISBN 10 : 1402083629
ISBN 13 : 9781402083624
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Vendeur : GreatBookPricesUK, Woodford Green, Royaume-Uni
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CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies
Edité par
Springer Netherlands, 2008
ISBN 10 : 1402083629
ISBN 13 : 9781402083624
Neuf
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Vendeur : moluna, Greven, Allemagne
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Gebunden. Etat : New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Gives a process-aware perspective on SRAM circuit design and testProvides detailed coverage of SRAM cell stability, stability sensitivity and analytical evaluation of Static Noise MarginIntroduces the concept of stability fault modelling. N° de réf. du vendeur 4095486
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CMOS Sram Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies: Process-Aware Sram Design and Test
Edité par
SPRINGER NATURE, 2008
ISBN 10 : 1402083629
ISBN 13 : 9781402083624
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