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Testing and Diagnosis of Analog Circuits and Systems - Couverture souple

Liu, Ruey-wen

 
9781461597483: Testing and Diagnosis of Analog Circuits and Systems
Couverture souple
ISBN 10 : 146159748X ISBN 13 : 9781461597483
Editeur : Springer, 2012

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Éditeur
Springer
Date d'édition
2012
Langue
anglais
ISBN 10 
146159748X
ISBN 13 
9781461597483
Reliure
Paperback
Coordonnées du fabricant
non disponible

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Edition présentée

ISBN 10 :  1461597498 ISBN 13 :  9781461597490
Editeur : Springer-Verlag New York Inc., 2012
Couverture souple