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Yield Simulation for Integrated Circuits - Couverture souple

 
9781475719321: Yield Simulation for Integrated Circuits

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Synopsis

1. Introduction.- 2. Background.- 3. Defect Models.- 4. Defect Statistics.- 5. Fault Analysis.- 6. VLASIC Implementation.- 7. Redundancy Analysis System.- 8. Fabrication Data.- 9. Conclusions and Current Research.- References.

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9780898382440: Yield Simulation for Integrated Circuits

Edition présentée

ISBN 10 :  0898382440 ISBN 13 :  9780898382440
Editeur : Kluwer Academic Publishers, 1987
Couverture rigide