Defect Oriented Testing for CMOS Analog and Digital Circuits - Couverture souple

Sachdev, Manoj

 
9781475749274: Defect Oriented Testing for CMOS Analog and Digital Circuits
Couverture souple
ISBN 10 : 1475749279 ISBN 13 : 9781475749274
Editeur : Springer, 2013

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Synopsis

Foreword. Prface. 1. Introduction. 2. Digital CMOS Fault Modeling and Inductive Fault Analysis. 3. Defects in Logic Circuits and Their Test Implications. 4. Testing Defects in Sequential Circuits. 5. Defect Oriented RAM Testing and Current Testable RAMs. 6. Testing Defects in Programmable Logic Circuits. 7. Defect Oriented Analog Testing. 8. Conclusion. Index.

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Éditeur
Springer
Date d'édition
2013
Langue
anglais
ISBN 10 
1475749279
ISBN 13 
9781475749274
Reliure
Paperback
Coordonnées du fabricant
non disponible
Personne responsable
non disponible

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