On-Chip Electro-Static Discharge (ESD) Protection for Radio-Frequency Integrated Circuits

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9783319108186: On-Chip Electro-Static Discharge (ESD) Protection for Radio-Frequency Integrated Circuits
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Qiang Cui, Juin J. Liou, Jean-Jacques Hajjar, Javier Salcedo, Yuanzhong Zhou, Parthasarathy Srivatsan
Edité par Springer 2015-03-14|NU-LBR-01541511 (2015)
ISBN 10 : 3319108182 ISBN 13 : 9783319108186
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Chiron Media
(Wallingford, Royaume-Uni)
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Description du livre Springer 2015-03-14|NU-LBR-01541511, 2015. Hardcover. État : New. 9783319108186. N° de réf. du libraire NU-LBR-01541511

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Qiang Cui, Juin J. Liou, Jean-Jacques Hajjar
Edité par Springer International Publishing AG 2015-03-11, Cham (2015)
ISBN 10 : 3319108182 ISBN 13 : 9783319108186
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Blackwell's
(Oxford, OX, Royaume-Uni)
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Description du livre Springer International Publishing AG 2015-03-11, Cham, 2015. hardback. État : New. N° de réf. du libraire 9783319108186

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Cui, Qiang; Liou, Juin J.; Hajjar, Jean-Jacques; Salcedo, Javier; Zhou, Yuanzhong; Srivatsan, Parthasarathy
Edité par Springer (2015)
ISBN 10 : 3319108182 ISBN 13 : 9783319108186
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Irish Booksellers
(Rumford, ME, Etats-Unis)
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Cui, Qiang; Liou, Juin J.; Hajjar, Jean-Jacques; Salcedo, Javier; Zhou, Yuanzhong; Srivatsan, Parthasarathy
Edité par Springer (2015)
ISBN 10 : 3319108182 ISBN 13 : 9783319108186
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English-Book-Service Mannheim
(Mannheim, Allemagne)
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Description du livre Springer, 2015. État : New. N° de réf. du libraire L9783319108186

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Cui, Qiang (Author)/ Liou, Juin J. (Author)/ Hajjar, Jean-Jacques (Author)/ Salcedo, Javier (Author)/ Zhou, Yuanzhong (Author)/ Srivatsan, Parthasarathy (Author)
Edité par Springer (2015)
ISBN 10 : 3319108182 ISBN 13 : 9783319108186
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Revaluation Books
(Exeter, Royaume-Uni)
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QIANG CUI
Edité par Springer (2015)
ISBN 10 : 3319108182 ISBN 13 : 9783319108186
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Herb Tandree Philosophy Books
(Stroud, GLOS, Royaume-Uni)
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Description du livre Springer, 2015. Hardback. État : NEW. 9783319108186 This listing is a new book, a title currently in-print which we order directly and immediately from the publisher. N° de réf. du libraire HTANDREE0873921

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Qiang Cui
Edité par Springer International Publishing AG (2015)
ISBN 10 : 3319108182 ISBN 13 : 9783319108186
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Books2Anywhere
(Fairford, GLOS, Royaume-Uni)
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Qiang Cui
Edité par Springer-Verlag Gmbh Apr 2015 (2015)
ISBN 10 : 3319108182 ISBN 13 : 9783319108186
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Description du livre Springer-Verlag Gmbh Apr 2015, 2015. Buch. État : Neu. 235x155x mm. Neuware - This book enables readers to design effective ESD protection solutions for all mainstream RF fabrication processes (GaAs pHEMT, SiGe HBT, CMOS). The new techniques introduced by the authors have much higher protection levels and much lower parasitic effects than those of existing ESD protection devices. The authors describe in detail the ESD phenomenon, as well as ESD protection fundamentals, standards, test equipment, and basic design strategies. Readers will benefit from realistic case studies of ESD protection for RFICs and will learn to increase significantly modern RFICs' ESD safety level, while maximizing RF performance. 86 pp. Englisch. N° de réf. du libraire 9783319108186

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Qiang Cui
Edité par Springer International Publishing AG (2015)
ISBN 10 : 3319108182 ISBN 13 : 9783319108186
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(Wood Dale, IL, Etats-Unis)
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Cui, Qiang
Edité par Springer (2016)
ISBN 10 : 3319108182 ISBN 13 : 9783319108186
Neuf(s) Paperback Quantité : 1
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Ria Christie Collections
(Uxbridge, Royaume-Uni)
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Description du livre Springer, 2016. Paperback. État : New. PRINT ON DEMAND Book; New; Publication Year 2016; Not Signed; Fast Shipping from the UK. No. book. N° de réf. du libraire ria9783319108186_lsuk

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