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Einführung in Die Röntgenfeinstrukturanalyse: Lehrbuch Für Physiker, Chemiker, Physikochemiker, Metallurgen, Kristallographen Und Mineralogen Im 2. Studienabschnitt - Couverture souple

 
9783322989734: Einführung in Die Röntgenfeinstrukturanalyse: Lehrbuch Für Physiker, Chemiker, Physikochemiker, Metallurgen, Kristallographen Und Mineralogen Im 2. Studienabschnitt
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  • ÉditeurSpringer-Verlag
  • Date d'édition2012
  • ISBN 10 3322989739
  • ISBN 13 9783322989734
  • ReliureBroché
  • Nombre de pages196
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9783528383244: Einführung in die Röntgen-Feinstruktur-Analyse. Lehrbuch für Physiker, Chemiker, Physikochemiker, Metallurgen, Kristallographen und Mineralogen im 2. Studienabschnitt.

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ISBN 10 :  3528383240 ISBN 13 :  9783528383244
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  • 9783528283247: Einführung in die Röntgenfeinstrukturanalyse. Lehrbuch für Physiker, Chemiker, Physikochemiker, Metallurgen, Kristallographen und Mineralogen im 2. Studienabschnitt

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Edité par Vieweg+Teubner Verlag (2012)
ISBN 10 : 3322989739 ISBN 13 : 9783322989734
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Description du livre Taschenbuch. Etat : Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -Auf dem Gebiet der Röntgenfeinstrukturanalyse sind seit dem ersten Erscheinen dieses Buches wesentliche Fortschritte erzielt worden. Ich bin daher gerne der Aufforde rung von verschiedener Seite nachgekommen, das Buch zu ergänzen und modernen Ent wicklungen Rechnung zu tragen. Neben einer Reihe kleinerer Verbesserungen und Ergänzungen wurden einige Abschnitte völlig neu gestaltet. Die Einführung mikroprozessorgesteuerter Pulverdiffrakto meter, deren Aufbau und Wirkungsweise beschrieben wird, hat die Meßtechnik bei Pulver untersuchungen stark verändert. Die direkte Datenerfassung und Datenauswertung an integrierten Rechenanlagen stellt hohe Ansprüche an die Auswerteverfahren. Diese mußten daher eingehender, vor allem in Hinblick auf Automatisierungsmöglichkeiten, besprochen werden. Ein eigenes Kapitel beschäftigt sich mit den Direkten Methoden der Phasenbestim mung. Die Fortschritte auf diesem Gebiet haben eine universelle Anwendung der Beugungs methoden für Kristallstrukturbestimmungen erst möglich gemacht und wesentlich dazu beigetragen, daß Kristallstrukturanalysen in fast allen Bereichen der Naturwissenschaften eine zunehmende Bedeutung erlangt haben. Da die Grundlagen Direkter Methoden bisher in der deutschsprachigen Literatur eher stiefmütterlich behandelt wurden, halte ich es für durchaus gerechtfertigt, sie hier einem breiteren Kreis zugänglich zu machen. Um das Buch auch für diejenigen Leser attraktiv zu gestalten, die vor allem an den Ergebnissen von Kristallstrukturanalysen interessiert sind, wurden verschiedene Abschnitte erweitert und der Interpretation von Ergebnissen, etwa in Hinblick auf Temperaturfaktoren oder den R-Wert, etwas ausführlicher gestaltet. Außerdem wurde eine übersicht über die gebräuchlichsten kristallographischen Programmsysteme gegeben und auf die kristallo graphischen Datenbanken hingewiesen. 212 pp. Deutsch. N° de réf. du vendeur 9783322989734

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Description du livre Taschenbuch. Etat : Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Auf dem Gebiet der Röntgenfeinstrukturanalyse sind seit dem ersten Erscheinen dieses Buches wesentliche Fortschritte erzielt worden. Ich bin daher gerne der Aufforde rung von verschiedener Seite nachgekommen, das Buch zu ergänzen und modernen Ent wicklungen Rechnung zu tragen. Neben einer Reihe kleinerer Verbesserungen und Ergänzungen wurden einige Abschnitte völlig neu gestaltet. Die Einführung mikroprozessorgesteuerter Pulverdiffrakto meter, deren Aufbau und Wirkungsweise beschrieben wird, hat die Meßtechnik bei Pulver untersuchungen stark verändert. Die direkte Datenerfassung und Datenauswertung an integrierten Rechenanlagen stellt hohe Ansprüche an die Auswerteverfahren. Diese mußten daher eingehender, vor allem in Hinblick auf Automatisierungsmöglichkeiten, besprochen werden. Ein eigenes Kapitel beschäftigt sich mit den Direkten Methoden der Phasenbestim mung. Die Fortschritte auf diesem Gebiet haben eine universelle Anwendung der Beugungs methoden für Kristallstrukturbestimmungen erst möglich gemacht und wesentlich dazu beigetragen, daß Kristallstrukturanalysen in fast allen Bereichen der Naturwissenschaften eine zunehmende Bedeutung erlangt haben. Da die Grundlagen Direkter Methoden bisher in der deutschsprachigen Literatur eher stiefmütterlich behandelt wurden, halte ich es für durchaus gerechtfertigt, sie hier einem breiteren Kreis zugänglich zu machen. Um das Buch auch für diejenigen Leser attraktiv zu gestalten, die vor allem an den Ergebnissen von Kristallstrukturanalysen interessiert sind, wurden verschiedene Abschnitte erweitert und der Interpretation von Ergebnissen, etwa in Hinblick auf Temperaturfaktoren oder den R-Wert, etwas ausführlicher gestaltet. Außerdem wurde eine übersicht über die gebräuchlichsten kristallographischen Programmsysteme gegeben und auf die kristallo graphischen Datenbanken hingewiesen. N° de réf. du vendeur 9783322989734

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Krischner, Harald
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Description du livre Etat : New. Num Pages: 196 pages, black & white illustrations, bibliography. BIC Classification: GB; PD. Category: (G) General (US: Trade). Dimension: 244 x 170 x 11. Weight in Grams: 345. . . 4. Paperback / so. . . . . N° de réf. du vendeur V9783322989734

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Description du livre Etat : New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. 1. Entstehung und Eigenschaften von Roentgenstrahlen.- 1.1. Definition.- 1.2. Das kontinuierliche Roentgenspektrum.- 1.3. Das charakteristische Roentgenspektrum.- 1.4. Erzeugung von Roentgenstrahlen.- 1.5. Strahlenschutz.- 1.6. Nachweis von Roentgenstrahlen.- 1. N° de réf. du vendeur 4502200

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