L'édition de cet ISBN n'est malheureusement plus disponible.
Afficher les exemplaires de cette édition ISBNLes informations fournies dans la section « Synopsis » peuvent faire référence à une autre édition de ce titre.
Frais de port :
EUR 5,24
Vers Etats-Unis
Description du livre Etat : New. New. In shrink wrap. Looks like an interesting title! 2.03. N° de réf. du vendeur Q-3540639764
Description du livre Hardcover. Etat : new. N° de réf. du vendeur 9783540639763
Description du livre Gebunden. Etat : New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Main benefit is information about the physics of image formation and microanalysis in scanning electron microscopy2nd, completely revised and updated editionMain benefit is information about the physics of image formation and microanalysis in sca. N° de réf. du vendeur 458677204
Description du livre Etat : New. PRINT ON DEMAND Book; New; Fast Shipping from the UK. No. book. N° de réf. du vendeur ria9783540639763_lsuk
Description du livre Etat : New. N° de réf. du vendeur ABLIING23Mar3113020173185
Description du livre Hardcover. Etat : new. New Copy. Customer Service Guaranteed. N° de réf. du vendeur think3540639764
Description du livre Buch. Etat : Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -Scanning Electron Microscopy provides a description of the physics of electron-probe formation and of electron-specimen interactions. The different imaging and analytical modes using secondary and backscattered electrons, electron-beam-induced currents, X-ray and Auger electrons, electron channelling effects, and cathodoluminescence are discussed to evaluate specific contrasts and to obtain quantitative information. 544 pp. Englisch. N° de réf. du vendeur 9783540639763
Description du livre Buch. Etat : Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Scanning Electron Microscopy provides a description of the physics of electron-probe formation and of electron-specimen interactions. The different imaging and analytical modes using secondary and backscattered electrons, electron-beam-induced currents, X-ray and Auger electrons, electron channelling effects, and cathodoluminescence are discussed to evaluate specific contrasts and to obtain quantitative information. N° de réf. du vendeur 9783540639763
Description du livre Etat : New. N° de réf. du vendeur I-9783540639763