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X-Ray and Neutron Reflectivity: Principles and Applications - Couverture rigide

 
9783540661955: X-Ray and Neutron Reflectivity: Principles and Applications

Synopsis

An introduction to x-ray and neutron reflectivity techniques. After a pedagogical introduction, the interplay between the statistics of rough surfaces and interfaces and the scattering of radiation is considered in detail. Specular reflectivity and diffuse scattering are discussed next. Th e approximations are rigorously introduced and many experimental effects are discussed. In the case of neutron reflectivity, particular attention is paid to the reflectivity of polarized neutrons from magnetic multilayers, which allows the determination of in-plane magnetization profiles. Many applications are reviewed in the second part: rough surfaces, interfaces and multilayers, liquid surfaces and soft-condensed matter, and thin polymer films. In each case the underlying physics is first introduced, then specific experimental methods are described. The book addresses researchers and graduate students.

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Présentation de l'éditeur

This book is the first comprehensive introduction to X-ray and neutron reflectivity techniques and illustrates them with many examples. After a pedagogical introduction on the interaction of X-rays and neutrons with matter, the interplay between the statistics of rough surfaces and interfaces and the scattering of radiation is considered in detail. Specular reflectivity and diffuse scattering are discussed next , in chapters 3 and 4 . The approximations are rigorously introduced and many experimental effects are discussed. The specific aspects of neutron reflectivity require separate treatment, given in chapter 5. Chapter 6 turns to X-ray reflectivity by rough multilayers. Eventually, chapter 7 introduces and discusses the by now well-established method of grazing incidence small angle X-ray scattering to investigate nanostructures.

For the second edition, the material has been completely reorganized so as to meet the demand for a modern multi-author textbook for PhD students and young researchers. All chapters have further been throughly revised, updated and, where appropriate, suitably augmented.

The first edition was been published as Lect. Notes Phys. m58 in the same series.

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9783540885870: X-Ray and Neutron Reflectivity: Principles and Applications

Edition présentée

ISBN 10 :  3540885870 ISBN 13 :  9783540885870
Editeur : Springer-Verlag Berlin and Heide..., 2008
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Daillant, Jean und Alain Gibaud:
Edité par Springer, 1999
ISBN 10 : 3540661956 ISBN 13 : 9783540661955
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ISBN 10 : 3540661956 ISBN 13 : 9783540661955
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Jean Daillant et Alain Gibaud
Edité par Springer, 1999
ISBN 10 : 3540661956 ISBN 13 : 9783540661955
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Hardcover. Etat : Très bon. Ancien livre de bibliothèque. Edition 1999. Tome 58. Ammareal reverse jusqu'à 15% du prix net de cet article à des organisations caritatives. ENGLISH DESCRIPTION Book Condition: Used, Very good. Former library book. Edition 1999. Volume 58. Ammareal gives back up to 15% of this item's net price to charity organizations. N° de réf. du vendeur F-918-041

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