Fiabilité des micro-interrupteurs en technologie MEMS: Étude des mécanismes de défaillance du contact électrique

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9786131537653: Fiabilité des micro-interrupteurs en technologie MEMS: Étude des mécanismes de défaillance du contact électrique
Présentation de l'éditeur :

L'amélioration, en termes de performances et de fiabilité, des micro-interrupteurs en technologie MEMS est indispensable pour permettre leur plus large industrialisation. Les travaux présentés dans cet ouvrage s'inscrivent dans le cadre d'une collaboration entre Schneider Electric et le CEA-Leti dont a résulté un micro-interrupteur MEMS à la fiabilité supérieure à l'état de l'art mondial. Cet ouvrage présente alors une étude des mécanismes de défaillances du contact électrique de ce composant, suivie du développement d'un banc de test permettant d'évaluer l'endurance de nouveaux matériaux de contact. Une étude des mécanismes d'établissement et d'interruption du courant lorsque l'espace inter-contacts est réduit à quelques dizaines de nanomètres est ensuite présentée. L'utilisation d'un microscope à force atomique à pointe conductrice a permis de simuler à vitesse réduite l'actionnement d'un micro-contact et a permis de mettre en évidence un phénomène de transfert de matière se produisant lors des derniers instants précédant la fermeture du contact. L'ensemble de ces travaux est alors utilisé pour définir les règles de conception d'un micro-contact fiable.

Biographie de l'auteur :

Titulaire d'un doctorat en Génie Électrique (Grenoble INP) et d'un diplôme d'ingénieur en Science des Matériaux (Polytech'Grenoble), l'auteur est spécialisé en micro et nanotechnologies. Son expertise en fiabilité des microsystèmes est le fruit de plusieurs années de recherche menées au CEA-Leti et chez Schneider Electric.

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1.

Vincent-M
Edité par Univ Europeenne, United States (2015)
ISBN 10 : 6131537658 ISBN 13 : 9786131537653
Neuf(s) Paperback Quantité : 1
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The Book Depository
(London, Royaume-Uni)
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Description du livre Univ Europeenne, United States, 2015. Paperback. État : New. 220 x 150 mm. Language: French . Brand New Book. L amelioration, en termes de performances et de fiabilite, des micro-interrupteurs en technologie MEMS est indispensable pour permettre leur plus large industrialisation. Les travaux presentes dans cet ouvrage s inscrivent dans le cadre d une collaboration entre Schneider Electric et le CEA-Leti dont a resulte un micro-interrupteur MEMS a la fiabilite superieure a l etat de l art mondial. Cet ouvrage presente alors une etude des mecanismes de defaillances du contact electrique de ce composant, suivie du developpement d un banc de test permettant d evaluer l endurance de nouveaux materiaux de contact. Une etude des mecanismes d etablissement et d interruption du courant lorsque l espace inter-contacts est reduit a quelques dizaines de nanometres est ensuite presentee. L utilisation d un microscope a force atomique a pointe conductrice a permis de simuler a vitesse reduite l actionnement d un micro-contact et a permis de mettre en evidence un phenomene de transfert de matiere se produisant lors des derniers instants precedant la fermeture du contact. L ensemble de ces travaux est alors utilise pour definir les regles de conception d un micro-contact fiable. N° de réf. du libraire KNV9786131537653

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Vincent-M
Edité par Univ Europeenne 2010-10-01 (2010)
ISBN 10 : 6131537658 ISBN 13 : 9786131537653
Neuf(s) paperback Quantité : > 20
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Blackwell's
(Oxford, OX, Royaume-Uni)
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Description du livre Univ Europeenne 2010-10-01, 2010. paperback. État : New. N° de réf. du libraire 9786131537653

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Vincent-M
Edité par Univ Europeenne, United States (2015)
ISBN 10 : 6131537658 ISBN 13 : 9786131537653
Neuf(s) Paperback Quantité : 1
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The Book Depository US
(London, Royaume-Uni)
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Description du livre Univ Europeenne, United States, 2015. Paperback. État : New. 220 x 150 mm. Language: French . Brand New Book. L amelioration, en termes de performances et de fiabilite, des micro-interrupteurs en technologie MEMS est indispensable pour permettre leur plus large industrialisation. Les travaux presentes dans cet ouvrage s inscrivent dans le cadre d une collaboration entre Schneider Electric et le CEA-Leti dont a resulte un micro-interrupteur MEMS a la fiabilite superieure a l etat de l art mondial. Cet ouvrage presente alors une etude des mecanismes de defaillances du contact electrique de ce composant, suivie du developpement d un banc de test permettant d evaluer l endurance de nouveaux materiaux de contact. Une etude des mecanismes d etablissement et d interruption du courant lorsque l espace inter-contacts est reduit a quelques dizaines de nanometres est ensuite presentee. L utilisation d un microscope a force atomique a pointe conductrice a permis de simuler a vitesse reduite l actionnement d un micro-contact et a permis de mettre en evidence un phenomene de transfert de matiere se produisant lors des derniers instants precedant la fermeture du contact. L ensemble de ces travaux est alors utilise pour definir les regles de conception d un micro-contact fiable. N° de réf. du libraire KNV9786131537653

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Maxime VINCENT
Edité par Omniscriptum (2010)
ISBN 10 : 6131537658 ISBN 13 : 9786131537653
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Gallix
(Gif sur Yvette, France)
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Description du livre Omniscriptum, 2010. État : Neuf. N° de réf. du libraire 9786131537653

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Maxime Vincent
Edité par Omniscriptum (2015)
ISBN 10 : 6131537658 ISBN 13 : 9786131537653
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Books2Anywhere
(Fairford, GLOS, Royaume-Uni)
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Description du livre Omniscriptum, 2015. PAP. État : New. New Book. Delivered from our UK warehouse in 3 to 5 business days. THIS BOOK IS PRINTED ON DEMAND. Established seller since 2000. N° de réf. du libraire LQ-9786131537653

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VINCENT-M
Edité par OmniScriptum (2016)
ISBN 10 : 6131537658 ISBN 13 : 9786131537653
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Ria Christie Collections
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Description du livre OmniScriptum, 2016. Paperback. État : New. PRINT ON DEMAND Book; New; Publication Year 2016; Not Signed; Fast Shipping from the UK. No. book. N° de réf. du libraire ria9786131537653_lsuk

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7.

Maxime VINCENT
Edité par Editions Universitaires Europeennes EUE Okt 2010 (2010)
ISBN 10 : 6131537658 ISBN 13 : 9786131537653
Neuf(s) Taschenbuch Quantité : 2
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Rheinberg-Buch
(Bergisch Gladbach, Allemagne)
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Description du livre Editions Universitaires Europeennes EUE Okt 2010, 2010. Taschenbuch. État : Neu. 220x150x16 mm. Neuware - L'amélioration, en termes de performances et de fiabilité, des micro-interrupteurs en technologie MEMS est indispensable pour permettre leur plus large industrialisation. Les travaux présentés dans cet ouvrage s'inscrivent dans le cadre d'une collaboration entre Schneider Electric et le CEA-Leti dont a résulté un micro-interrupteur MEMS à la fiabilité supérieure à l'état de l'art mondial. Cet ouvrage présente alors une étude des mécanismes de défaillances du contact électrique de ce composant, suivie du développement d'un banc de test permettant d'évaluer l'endurance de nouveaux matériaux de contact. Une étude des mécanismes d'établissement et d'interruption du courant lorsque l'espace inter-contacts est réduit à quelques dizaines de nanomètres est ensuite présentée. L'utilisation d'un microscope à force atomique à pointe conductrice a permis de simuler à vitesse réduite l'actionnement d'un micro-contact et a permis de mettre en évidence un phénomène de transfert de matière se produisant lors des derniers instants précédant la fermeture du contact. L'ensemble de ces travaux est alors utilisé pour définir les règles de conception d'un micro-contact fiable. 264 pp. Französisch. N° de réf. du libraire 9786131537653

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8.

Maxime VINCENT
Edité par Editions Universitaires Europeennes EUE Okt 2010 (2010)
ISBN 10 : 6131537658 ISBN 13 : 9786131537653
Neuf(s) Taschenbuch Quantité : 2
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Agrios-Buch
(Bergisch Gladbach, Allemagne)
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Description du livre Editions Universitaires Europeennes EUE Okt 2010, 2010. Taschenbuch. État : Neu. 220x150x16 mm. Neuware - L'amélioration, en termes de performances et de fiabilité, des micro-interrupteurs en technologie MEMS est indispensable pour permettre leur plus large industrialisation. Les travaux présentés dans cet ouvrage s'inscrivent dans le cadre d'une collaboration entre Schneider Electric et le CEA-Leti dont a résulté un micro-interrupteur MEMS à la fiabilité supérieure à l'état de l'art mondial. Cet ouvrage présente alors une étude des mécanismes de défaillances du contact électrique de ce composant, suivie du développement d'un banc de test permettant d'évaluer l'endurance de nouveaux matériaux de contact. Une étude des mécanismes d'établissement et d'interruption du courant lorsque l'espace inter-contacts est réduit à quelques dizaines de nanomètres est ensuite présentée. L'utilisation d'un microscope à force atomique à pointe conductrice a permis de simuler à vitesse réduite l'actionnement d'un micro-contact et a permis de mettre en évidence un phénomène de transfert de matière se produisant lors des derniers instants précédant la fermeture du contact. L'ensemble de ces travaux est alors utilisé pour définir les règles de conception d'un micro-contact fiable. 264 pp. Französisch. N° de réf. du libraire 9786131537653

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Maxime Vincent
Edité par Omniscriptum (2015)
ISBN 10 : 6131537658 ISBN 13 : 9786131537653
Neuf(s) Quantité : > 20
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PBShop
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Description du livre Omniscriptum, 2015. PAP. État : New. New Book. Shipped from US within 10 to 14 business days. THIS BOOK IS PRINTED ON DEMAND. Established seller since 2000. N° de réf. du libraire IQ-9786131537653

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Maxime VINCENT
Edité par Editions Universitaires Europeennes EUE Okt 2010 (2010)
ISBN 10 : 6131537658 ISBN 13 : 9786131537653
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Description du livre Editions Universitaires Europeennes EUE Okt 2010, 2010. Taschenbuch. État : Neu. 220x150x16 mm. This item is printed on demand - Print on Demand Neuware - L'amélioration, en termes de performances et de fiabilité, des micro-interrupteurs en technologie MEMS est indispensable pour permettre leur plus large industrialisation. Les travaux présentés dans cet ouvrage s'inscrivent dans le cadre d'une collaboration entre Schneider Electric et le CEA-Leti dont a résulté un micro-interrupteur MEMS à la fiabilité supérieure à l'état de l'art mondial. Cet ouvrage présente alors une étude des mécanismes de défaillances du contact électrique de ce composant, suivie du développement d'un banc de test permettant d'évaluer l'endurance de nouveaux matériaux de contact. Une étude des mécanismes d'établissement et d'interruption du courant lorsque l'espace inter-contacts est réduit à quelques dizaines de nanomètres est ensuite présentée. L'utilisation d'un microscope à force atomique à pointe conductrice a permis de simuler à vitesse réduite l'actionnement d'un micro-contact et a permis de mettre en évidence un phénomène de transfert de matière se produisant lors des derniers instants précédant la fermeture du contact. L'ensemble de ces travaux est alors utilisé pour définir les règles de conception d'un micro-contact fiable. 264 pp. Französisch. N° de réf. du libraire 9786131537653

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