Articles liés à Design, Analysis and Test of Logic Circuits Under Uncertaint...

Design, Analysis and Test of Logic Circuits Under Uncertainty - Couverture souple

Krishnaswamy, Smita; Markov, Igor L.; Hayes, John P.

 
9789048196456: Design, Analysis and Test of Logic Circuits Under Uncertainty
Couverture souple
ISBN 10 : 9048196450 ISBN 13 : 9789048196456
Editeur : Springer, 2012

L'édition de cet ISBN n'est malheureusement plus disponible.

Synopsis

Introduction.- Probabilistic Transfer Matrices.- Computing with Probabilistic Transfer Matrices.- Testing Logic Circuits for Probabilistic Faults.- Signtaure-based Reliability Analysis.- Design for Robustness.- Summary and Extensions.

Les informations fournies dans la section « Synopsis » peuvent faire référence à une autre édition de ce titre.

  • ÉditeurSpringer
  • Date d'édition2012
  • ISBN 10 9048196450
  • ISBN 13 9789048196456
  • ReliurePaperback
  • Langueanglais
  • Coordonnées du fabricantnon disponible

(Aucun exemplaire disponible)

Chercher:



Créez une demande

Vous ne trouvez pas le livre que vous recherchez ? Nous allons poursuivre vos recherches. Si l'un de nos libraires l'ajoute aux offres sur AbeBooks, nous vous le ferons savoir !

Créez une demande

Autres éditions populaires du même titre

9789048196432: Design, Analysis and Test of Logic Circuits Under Uncertainty

Edition présentée

ISBN 10 :  9048196434 ISBN 13 :  9789048196432
Editeur : Springer, 2012
Couverture rigide