Delay Fault Testing for VLSI Circuits

Krstic, Angela;Cheng, Kwang-Ting

ISBN 10: 0792382951 ISBN 13: 9780792382959
Edité par Kluwer Academic Pub, Boston, 1998
Langue: anglais
Etat : Occasion Couverture rigide

Vendu par Feldman's Books, Menlo Park, CA, Etats-Unis

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