Ion Beam Analysis: Fundamentals and Applications

Nastasi, Michael; Mayer, James W.; Wang, Yongqiang

ISBN 10: 0367445840 ISBN 13: 9780367445843
Edité par CRC Press, 2019
Langue: anglais
Etat : Neuf Couverture souple

Vendu par Best Price, Torrance, CA, Etats-Unis

Vendeur AbeBooks depuis 30 août 2024

Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles Evaluation 5 étoiles, En savoir plus sur les évaluations des vendeurs

Afficher tous les articles du vendeur


Neuf(s) - Couverture souple

Etat : Neuf

Prix:
EUR 75,48
EUR 7,77 expédition vers Etats-Unis

Quantité disponible : 4 disponible(s)

Ajouter au panier