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Analog and Mixed-Signal Boundary-Scan: A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard
Livre 35 sur 40 : Frontiers in Electronic TestingVendeur : ThriftBooks-Atlanta, AUSTELL, GA, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 26,99
Gratuit expédition vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
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Analog and Mixed-Signal Boundary-Scan: A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard (Frontiers in Electronic Testing, 16)
Livre 35 sur 40 : Frontiers in Electronic TestingVendeur : HPB-Red, Dallas, TX, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 26,03
EUR 3,23 expédition vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierHardcover. Etat : Good. Connecting readers with great books since 1972! Used textbooks may not include companion materials such as access codes, etc. May have some wear or writing/highlighting. We ship orders daily and Customer Service is our top priority!
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Analog and Mixed-Signal Boundary-Scan: A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard (Frontiers in Electronic Testing, 16)
Livre 35 sur 40 : Frontiers in Electronic TestingVendeur : ALLBOOKS1, Direk, SA, Australie
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 133,39
Gratuit expédition depuis Australie vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
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Analog and Mixed-Signal Boundary-Scan: A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard
Livre 35 sur 40 : Frontiers in Electronic TestingVendeur : Anybook.com, Lincoln, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 113,71
EUR 28,50 expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierEtat : Good. This is an ex-library book and may have the usual library/used-book markings inside.This book has hardback covers. Clean from markings. In good all round condition. Please note the Image in this listing is a stock photo and may not match the covers of the actual item,500grams, ISBN:9780792386865.
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Analog and Mixed-Signal Boundary-Scan: A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard (Frontiers in Electronic Testing)
Livre 35 sur 40 : Frontiers in Electronic TestingVendeur : Lucky's Textbooks, Dallas, TX, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 158,06
EUR 3,44 expédition vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
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Analog and Mixed-Signal Boundary-Scan : A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard
Livre 35 sur 40 : Frontiers in Electronic TestingVendeur : GreatBookPrices, Columbia, MD, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 159,60
EUR 2,27 expédition vers Etats-UnisQuantité disponible : 15 disponible(s)
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Analog and Mixed-Signal Boundary-Scan: A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard (Frontiers in Electronic Testing, 16)
Livre 35 sur 40 : Frontiers in Electronic TestingVendeur : Lucky's Textbooks, Dallas, TX, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 158,41
EUR 3,44 expédition vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
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Analog and Mixed-Signal Boundary-Scan: A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard (Frontiers in Electronic Testing)
Livre 35 sur 40 : Frontiers in Electronic TestingVendeur : Ria Christie Collections, Uxbridge, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 157,42
EUR 13,63 expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
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Analog and Mixed-Signal Boundary-Scan: A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard (Frontiers in Electronic Testing, 16)
Livre 35 sur 40 : Frontiers in Electronic TestingVendeur : Ria Christie Collections, Uxbridge, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 157,42
EUR 13,63 expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
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Analog and Mixed-Signal Boundary-Scan : A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard
Livre 35 sur 40 : Frontiers in Electronic TestingVendeur : GreatBookPricesUK, Woodford Green, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 157,41
EUR 17,07 expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
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Analog and Mixed-Signal Boundary-Scan: A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard (Frontiers in Electronic Testing, 16)
Livre 35 sur 40 : Frontiers in Electronic TestingVendeur : California Books, Miami, FL, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 179,25
Gratuit expédition vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
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Analog and Mixed-Signal Boundary-Scan | A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard
Livre 35 sur 40 : Frontiers in Electronic TestingEUR 141,90
EUR 70 expédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : 5 disponible(s)
Ajouter au panierTaschenbuch. Etat : Neu. Analog and Mixed-Signal Boundary-Scan | A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard | Adam Osseiran | Taschenbuch | xviii | Englisch | 2010 | Springer US | EAN 9781441951151 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.
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Analog and Mixed-Signal Boundary-Scan: A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard
Livre 35 sur 40 : Frontiers in Electronic TestingEUR 173,55
EUR 48,99 expédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
Ajouter au panierGebunden. Etat : New. Adam Osseiran is Professor of Electrical Engineering at the Engineering Institute of Geneva, Switzerland and the European Design and Test Specialist at Fluence Technology Inc., Beaverton, Oregon, USA. He is the present Chair of the IEEE 1149.4 Work.
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Analog and Mixed-Signal Boundary-Scan : A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard
Livre 35 sur 40 : Frontiers in Electronic TestingEdité par Springer US, Springer US, 2010
ISBN 10 : 1441951156 ISBN 13 : 9781441951151
Langue: anglais
Vendeur : AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Allemagne
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 165,03
EUR 61,39 expédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierTaschenbuch. Etat : Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This book contains more than the IEEE Standard 1149.4. It also contains the thoughts of those who developed the standard. Adam Osseiran has edited the original writings of Brian Wilkins, Colin Maunder, Rod Tulloss, Steve Sunter, Mani Soma, Keith Lofstrom and John McDermid, all of whom have personally contributed to this standard. To preserve the original spirit, only minor changes were made, and the reader will sense a chapter-to-chapter variation in the style of expression. This may appear awkward to some, although I found the Iack of monotonicity refreshing. A system consists of a specific organization of parts. The function of the system cannot be performed by an individual part or even a disorganized collection ofthe same parts. Testing has a system-like characteristic. Testing of a system does not follow directly from the testing of its parts, and a system built with testable parts can sometimes be impossible to test. Therefore, testability of the system must be organized. Some years ago, the IEEE published the boundary-scan Standard 1149.1. That Standard provided an architecture for digital VLSI chips. The chips designed with the 1149.1 architecture can be integrated into a testable system. However, many systems today contain both analog and digital chips. Even if all digital chips are compliant with the standard, the testability of a mixed-signal system cannot be guaranteed. The new Standard 1149.4, described in this book, extends the previous architecture to mixed-signal systems.
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Analog and Mixed-Signal Boundary-Scan : A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard
Livre 35 sur 40 : Frontiers in Electronic TestingVendeur : GreatBookPricesUK, Woodford Green, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 219,18
EUR 17,07 expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
Ajouter au panierEtat : As New. Unread book in perfect condition.
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Analog and Mixed-Signal Boundary-Scan: A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard (Frontiers in Electronic Testing (16))
Livre 35 sur 40 : Frontiers in Electronic TestingVendeur : Mispah books, Redhill, SURRE, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 4 sur 5 étoiles
EUR 209,81
EUR 28,45 expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierHardcover. Etat : Like New. LIKE NEW. SHIPS FROM MULTIPLE LOCATIONS. book.
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Analog and Mixed-Signal Boundary-Scan: A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard
Livre 35 sur 40 : Frontiers in Electronic TestingVendeur : Revaluation Books, Exeter, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 230,35
EUR 11,38 expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : 2 disponible(s)
Ajouter au panierPaperback. Etat : Brand New. 176 pages. 9.21x6.14x0.40 inches. In Stock.
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Analog and Mixed-Signal Boundary-Scan: A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard
Livre 35 sur 40 : Frontiers in Electronic TestingVendeur : Revaluation Books, Exeter, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 232,32
EUR 11,38 expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : 2 disponible(s)
Ajouter au panierHardcover. Etat : Brand New. 1st edition. 155 pages. 9.25x6.25x0.75 inches. In Stock.
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Analog and Mixed-Signal Boundary-Scan : A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard
Livre 35 sur 40 : Frontiers in Electronic TestingVendeur : GreatBookPrices, Columbia, MD, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 243,05
EUR 2,27 expédition vers Etats-UnisQuantité disponible : 15 disponible(s)
Ajouter au panierEtat : As New. Unread book in perfect condition.
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Analog and Mixed-Signal Boundary-Scan : A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard
Livre 35 sur 40 : Frontiers in Electronic TestingVendeur : AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Allemagne
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 241,87
EUR 62,13 expédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : 2 disponible(s)
Ajouter au panierBuch. Etat : Neu. Neuware - This book contains more than the IEEE Standard 1149.4. It also contains the thoughts of those who developed the standard. Adam Osseiran has edited the original writings of Brian Wilkins, Colin Maunder, Rod Tulloss, Steve Sunter, Mani Soma, Keith Lofstrom and John McDermid, all of whom have personally contributed to this standard. To preserve the original spirit, only minor changes were made, and the reader will sense a chapter-to-chapter variation in the style of expression. This may appear awkward to some, although I found the Iack of monotonicity refreshing. A system consists of a specific organization of parts. The function of the system cannot be performed by an individual part or even a disorganized collection ofthe same parts. Testing has a system-like characteristic. Testing of a system does not follow directly from the testing of its parts, and a system built with testable parts can sometimes be impossible to test. Therefore, testability of the system must be organized. Some years ago, the IEEE published the boundary-scan Standard 1149.1. That Standard provided an architecture for digital VLSI chips. The chips designed with the 1149.1 architecture can be integrated into a testable system. However, many systems today contain both analog and digital chips. Even if all digital chips are compliant with the standard, the testability of a mixed-signal system cannot be guaranteed. The new Standard 1149.4, described in this book, extends the previous architecture to mixed-signal systems.
