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Low-power High-resolution Analog to Digital Converters : Design, Test and Calibration
Vendeur : GreatBookPrices, Columbia, MD, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 54,09
EUR 2,28 expédition vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
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Low-Power High-Resolution Analog to Digital Converters: Design, Test and Calibration (Analog Circuits and Signal Processing)
Vendeur : Lucky's Textbooks, Dallas, TX, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 52,90
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Low-Power High-Resolution Analog to Digital Converters: Design, Test and Calibration (Hardback or Cased Book)
Vendeur : BargainBookStores, Grand Rapids, MI, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 56,58
Gratuit expédition vers Etats-UnisQuantité disponible : 5 disponible(s)
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Low-Power High-Resolution Analog to Digital Converters: Design, Test and Calibration (Analog Circuits and Signal Processing)
Vendeur : Lucky's Textbooks, Dallas, TX, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 53,30
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Low-Power High-Resolution Analog to Digital Converters: Design, Test and Calibration (Analog Circuits and Signal Processing)
Vendeur : California Books, Miami, FL, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 65,74
Gratuit expédition vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
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Low-Power High-Resolution Analog to Digital Converters: Design, Test and Calibration (Analog Circuits and Signal Processing)
Vendeur : Ria Christie Collections, Uxbridge, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 57,40
EUR 13,59 expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
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Low-Power High-Resolution Analog to Digital Converters: Design, Test and Calibration (Analog Circuits and Signal Processing)
Vendeur : Ria Christie Collections, Uxbridge, Royaume-Uni
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Low-Power High-Resolution Analog to Digital Converters: Design, Test and Calibration (Analog Circuits and Signal Processing)
Vendeur : Books Puddle, New York, NY, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 4 sur 5 étoiles
EUR 67,98
EUR 3,44 expédition vers Etats-UnisQuantité disponible : 4 disponible(s)
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Low-power High-resolution Analog to Digital Converters : Design, Test and Calibration
Vendeur : GreatBookPricesUK, Woodford Green, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 57,39
EUR 17,02 expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
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Low-Power High-Resolution Analog to Digital Converters : Design, Test and Calibration
Vendeur : AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Allemagne
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 59,27
EUR 63,08 expédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : 2 disponible(s)
Ajouter au panierBuch. Etat : Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - With the fast advancement of CMOS fabrication technology, more and more signal-processing functions are implemented in the digital domain for a lower cost, lower power consumption, higher yield, and higher re-configurability. This has recently generated a great demand for low-power, low-voltage A/D converters that can be realized in a mainstream deep-submicron CMOS technology. However, the discrepancies between lithography wavelengths and circuit feature sizes are increasing. Lower power supply voltages significantly reduce noise margins and increase variations in process, device and design parameters. Consequently, it is steadily more difficult to control the fabrication process precisely enough to maintain uniformity. The inherent randomness of materials used in fabrication at nanoscopic scales means that performance will be increasingly variable, not only from die-to-die but also within each individual die. Parametric variability will be compounded by degradation in nanoscale integrated circuits resulting in instability of parameters over time, eventually leading to the development of faults. Process variation cannot be solved by improving manufacturing tolerances; variability must be reduced by new device technology or managed by design in order for scaling to continue. Similarly, within-die performance variation also imposes new challenges for test methods.In an attempt to address these issues, Low-Power High-Resolution Analog-to-Digital Converters specifically focus on: i) improving the power efficiency for the high-speed, and low spurious spectral A/D conversion performance by exploring the potential of low-voltage analog design and calibration techniques, respectively, and ii) development of circuit techniques and algorithms to enhance testing and debugging potential to detect errors dynamically, to isolate and confine faults, and to recover errors continuously. The feasibility of the described methods has been verified by measurementsfrom the silicon prototypes fabricated in standard 180nm, 90nm and 65nm CMOS technology.
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Low-power High-resolution Analog to Digital Converters : Design, Test and Calibration
Vendeur : GreatBookPricesUK, Woodford Green, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 109,82
EUR 17,02 expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
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Low-Power High-Resolution Analog to Digital Converters: Design, Test and Calibration (Analog Circuits and Signal Processing)
Vendeur : Mispah books, Redhill, SURRE, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 4 sur 5 étoiles
EUR 100,49
EUR 28,36 expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
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Low-power High-resolution Analog to Digital Converters : Design, Test and Calibration
Vendeur : GreatBookPrices, Columbia, MD, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 130,41
EUR 2,28 expédition vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
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Low-Power High-Resolution Analog to Digital Converters: Design, Test and Calibration (Analog Circuits and Signal Processing)
Vendeur : Mispah books, Redhill, SURRE, Royaume-Uni
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EUR 128,53
EUR 28,36 expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
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Low-Power High-Resolution Analog to Digital Converters: Design, Test and Calibration
Edité par SPRINGER NATURE Nov 2010, 2010
ISBN 10 : 9048197244 ISBN 13 : 9789048197248
Langue: anglais
Vendeur : BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, Allemagne
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 53,49
EUR 23 expédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : 2 disponible(s)
Ajouter au panierBuch. Etat : Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -With the fast advancement of CMOS fabrication technology, more and more signal-processing functions are implemented in the digital domain for a lower cost, lower power consumption, higher yield, and higher re-configurability. This has recently generated a great demand for low-power, low-voltage A/D converters that can be realized in a mainstream deep-submicron CMOS technology. However, the discrepancies between lithography wavelengths and circuit feature sizes are increasing. Lower power supply voltages significantly reduce noise margins and increase variations in process, device and design parameters. Consequently, it is steadily more difficult to control the fabrication process precisely enough to maintain uniformity. The inherent randomness of materials used in fabrication at nanoscopic scales means that performance will be increasingly variable, not only from die-to-die but also within each individual die. Parametric variability will be compounded by degradation in nanoscale integrated circuits resulting in instability of parameters over time, eventually leading to the development of faults. Process variation cannot be solved by improving manufacturing tolerances; variability must be reduced by new device technology or managed by design in order for scaling to continue. Similarly, within-die performance variation also imposes new challenges for test methods.In an attempt to address these issues, Low-Power High-Resolution Analog-to-Digital Converters specifically focus on: i) improving the power efficiency for the high-speed, and low spurious spectral A/D conversion performance by exploring the potential of low-voltage analog design and calibration techniques, respectively, and ii) development of circuit techniques and algorithms to enhance testing and debugging potential to detect errors dynamically, to isolate and confine faults, and to recover errors continuously. The feasibility of the described methods has been verified by measurements from the silicon prototypes fabricated in standard 180nm, 90nm and 65nm CMOS technology. 293 pp. Englisch.
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Low-Power High-Resolution Analog to Digital Converters: Design, Test and Calibration (Analog Circuits and Signal Processing)
Vendeur : Majestic Books, Hounslow, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 4 sur 5 étoiles
EUR 76,24
EUR 7,37 expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : 4 disponible(s)
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Low-Power High-Resolution Analog to Digital Converters: Design, Test and Calibration (Analog Circuits and Signal Processing)
Vendeur : Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Allemagne
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 78,29
EUR 9,95 expédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : 4 disponible(s)
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EUR 48,37
EUR 48,99 expédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
Ajouter au panierEtat : New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Unique combination of design, test, debugging and calibration of A/D converters (probably only on the market)Numerous examples and easy to follow procedure for design, test, debugging and calibration of A/D convertersBoth state-of-the art software and hardw.
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EUR 48,74
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