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NANOMETER-SCALE DEFECT DETECTION USING POLARIZED LIGHT
Vendeur : Books Puddle, New York, NY, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 4 sur 5 étoiles
EUR 34,47
Autre deviseEUR 7,74 expédition depuis Etats-Unis vers FranceQuantité disponible : 1 disponible(s)
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NANOMETER-SCALE DEFECT DETECTION USING POLARIZED LIGHT
Vendeur : Majestic Books, Hounslow, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 33,26
Autre deviseEUR 10,21 expédition depuis Royaume-Uni vers FranceQuantité disponible : 1 disponible(s)
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NANOMETER-SCALE DEFECT DETECTION USING POLARIZED LIGHT
Vendeur : Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Allemagne
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 147,27
Autre deviseEUR 7,95 expédition depuis Allemagne vers FranceQuantité disponible : 4 disponible(s)
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Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light
Vendeur : GreatBookPrices, Columbia, MD, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 148,67
Autre deviseEUR 17,19 expédition depuis Etats-Unis vers FranceQuantité disponible : 8 disponible(s)
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Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light
Vendeur : GreatBookPrices, Columbia, MD, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 148,92
Autre deviseEUR 17,19 expédition depuis Etats-Unis vers FranceQuantité disponible : 8 disponible(s)
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Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light
Vendeur : GreatBookPricesUK, Woodford Green, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 154,36
Autre deviseEUR 17,30 expédition depuis Royaume-Uni vers FranceQuantité disponible : 8 disponible(s)
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Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light (Mechanical Engineering and Solid Mechanics: Reliability of Multiphysical Systems)
Vendeur : Chiron Media, Wallingford, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 4 sur 5 étoiles
EUR 166,53
Autre deviseEUR 10,94 expédition depuis Royaume-Uni vers FranceQuantité disponible : 2 disponible(s)
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Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light
Vendeur : GreatBookPricesUK, Woodford Green, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 164,53
Autre deviseEUR 17,30 expédition depuis Royaume-Uni vers FranceQuantité disponible : 8 disponible(s)
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Nanometer-Scale Defect Detection Using Polarized Light
Edité par John Wiley & Sons, Ltd., 2015
ISBN 10 : 1848219369 ISBN 13 : 9781848219366
Langue: anglais
EUR 166,43
Autre deviseEUR 9,70 expédition depuis Allemagne vers FranceQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
Ajouter au panierEtat : New. This book describes the methods used to detect material defects at the nanoscale. The authors present different theories, polarization states and interactions of light with matter, in particular optical techniques using polarized light.Klappentext.
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Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light
Edité par ISTE Ltd and John Wiley & Sons Inc, 2016
ISBN 10 : 1848219369 ISBN 13 : 9781848219366
Langue: anglais
Vendeur : THE SAINT BOOKSTORE, Southport, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 172,88
Autre deviseEUR 7,74 expédition depuis Royaume-Uni vers FranceQuantité disponible : 2 disponible(s)
Ajouter au panierHardback. Etat : New. New copy - Usually dispatched within 4 working days. 618.
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Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light (Mechanical Engineering and Solid Mechanics: Reliability of Multiphysical Systems, 2)
Vendeur : Ria Christie Collections, Uxbridge, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 176,45
Autre deviseEUR 4,60 expédition depuis Royaume-Uni vers FranceQuantité disponible : 2 disponible(s)
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Nanometer-Scale Defect Detection Using Polarized Light
Vendeur : AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Allemagne
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 173,76
Autre deviseEUR 10,99 expédition depuis Allemagne vers FranceQuantité disponible : 2 disponible(s)
Ajouter au panierBuch. Etat : Neu. Neuware - This book describes the methods used to detect material defects at the nanoscale. The authors present different theories, polarization states and interactions of light with matter, in particular optical techniques using polarized light.
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Nanometer-Scale Defect Detection Using Polarized Light
Edité par ISTE Ltd and John Wiley & Sons Inc, 2016
ISBN 10 : 1848219369 ISBN 13 : 9781848219366
Langue: anglais
Vendeur : Kennys Bookshop and Art Galleries Ltd., Galway, GY, Irlande
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
Edition originale
EUR 183,45
Autre deviseEUR 3 expédition depuis Irlande vers FranceQuantité disponible : 15 disponible(s)
Ajouter au panierEtat : New. This book describes the methods used to detect material defects at the nanoscale. The authors present different theories, polarization states and interactions of light with matter, in particular optical techniques using polarized light. Num Pages: 316 pages, black & white illustrations. BIC Classification: TBN; TGMT; TTB. Category: (P) Professional & Vocational. Dimension: 242 x 164 x 22. Weight in Grams: 622. . 2016. 1st Edition. Hardcover. . . . .
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Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light
Edité par ISTE Ltd and John Wiley and Sons Inc, GB, 2016
ISBN 10 : 1848219369 ISBN 13 : 9781848219366
Langue: anglais
Vendeur : Rarewaves.com UK, London, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 4 sur 5 étoiles
EUR 195,44
Autre deviseEUR 2,31 expédition depuis Royaume-Uni vers FranceQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierHardback. Etat : New. This book describes the methods used to detect material defects at the nanoscale. The authors present different theories, polarization states and interactions of light with matter, in particular optical techniques using polarized light. Combining experimental techniques of polarized light analysis with techniques based on theoretical or statistical models to study faults or buried interfaces of mechatronic systems, the authors define the range of validity of measurements of carbon nanotube properties. The combination of theory and pratical methods presented throughout this book provide the reader with an insight into the current understanding of physicochemical processes affecting the properties of materials at the nanoscale.
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Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light (Mechanical Engineering and Solid Mechanics: Reliability of Multiphysical Systems, 2)
Vendeur : Lucky's Textbooks, Dallas, TX, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 147,73
Autre deviseEUR 64,51 expédition depuis Etats-Unis vers FranceQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
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Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light
Edité par ISTE Ltd and John Wiley and Sons Inc, GB, 2016
ISBN 10 : 1848219369 ISBN 13 : 9781848219366
Langue: anglais
Vendeur : Rarewaves.com USA, London, LONDO, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 216,12
Autre deviseEUR 2,31 expédition depuis Royaume-Uni vers FranceQuantité disponible : 1 disponible(s)
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Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light (Mechanical Engineering and Solid Mechanics: Reliability of Multiphysical Systems, 2)
Vendeur : Ubiquity Trade, Miami, FL, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 2 sur 5 étoiles
EUR 190,18
Autre deviseEUR 34,41 expédition depuis Etats-Unis vers FranceQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
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Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light
Edité par Iste/Hermes Science Pub, 2016
ISBN 10 : 1848219369 ISBN 13 : 9781848219366
Langue: anglais
Vendeur : Revaluation Books, Exeter, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 219,03
Autre deviseEUR 11,53 expédition depuis Royaume-Uni vers FranceQuantité disponible : 2 disponible(s)
Ajouter au panierHardcover. Etat : Brand New. 200 pages. 10.00x6.50x1.00 inches. In Stock.
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Nanometer-Scale Defect Detection Using Polarized Light
Edité par ISTE Ltd and John Wiley & Sons Inc, 2016
ISBN 10 : 1848219369 ISBN 13 : 9781848219366
Langue: anglais
Vendeur : Kennys Bookstore, Olney, MD, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 228,49
Autre deviseEUR 2,71 expédition depuis Etats-Unis vers FranceQuantité disponible : 15 disponible(s)
Ajouter au panierEtat : New. This book describes the methods used to detect material defects at the nanoscale. The authors present different theories, polarization states and interactions of light with matter, in particular optical techniques using polarized light. Num Pages: 316 pages, black & white illustrations. BIC Classification: TBN; TGMT; TTB. Category: (P) Professional & Vocational. Dimension: 242 x 164 x 22. Weight in Grams: 622. . 2016. 1st Edition. Hardcover. . . . . Books ship from the US and Ireland.
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Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light
Edité par Iste/Hermes Science Pub, 2016
ISBN 10 : 1848219369 ISBN 13 : 9781848219366
Langue: anglais
Vendeur : Revaluation Books, Exeter, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 207,24
Autre deviseEUR 11,53 expédition depuis Royaume-Uni vers FranceQuantité disponible : 2 disponible(s)
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