Edité par Springer, 2007
Langue: anglais
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Ajouter au panierHardcover. Etat : Wie neu. 778 S., Like new. Shrink wrapped. / Wie neu. In Folie verschweißt. Sprache: Englisch Gewicht in Gramm: 1355 3rd corrected Ed. 2008, corr. 2nd printing 2009.
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Edité par Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG, Berlin, 2014
ISBN 10 : 3642433154 ISBN 13 : 9783642433153
Langue: anglais
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Ajouter au panierPaperback. Etat : new. Paperback. This book explains concepts of transmission electron microscopy (TEM) and x-ray diffractometry (XRD) that are important for the characterization of materials. The fourth edition adds important new techniques of TEM such as electron tomography, nanobeam diffraction, and geometric phase analysis. A new chapter on neutron scattering completes the trio of x-ray, electron and neutron diffraction. All chapters were updated and revised for clarity. The book explains the fundamentals of how waves and wavefunctions interact with atoms in solids, and the similarities and differences of using x-rays, electrons, or neutrons for diffraction measurements. Diffraction effects of crystalline order, defects, and disorder in materials are explained in detail. Both practical and theoretical issues are covered. The book can be used in an introductory-level or advanced-level course, since sections are identified by difficulty. Each chapter includes a set of problems to illustrate principles, and the extensive Appendix includes laboratory exercises. This book explains concepts of transmission electron microscopy (TEM) and x-ray diffractometry (XRD) that are important for the characterization of materials. Shipping may be from our UK warehouse or from our Australian or US warehouses, depending on stock availability.
Edité par Springer Auflage: 3rd ed. 2008. Corr. 2nd printing 2009, 2008
ISBN 10 : 3540738851 ISBN 13 : 9783540738855
Langue: anglais
Vendeur : BUCHSERVICE / ANTIQUARIAT Lars Lutzer, Wahlstedt, Allemagne
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Ajouter au panierHardcover. Etat : gut. This hugely successful and highly acclaimed text is designed to meet the needs of materials scientists at all levels. In this third edition readers get a fully updated and revised text, too. Fultz and Howe explain concepts of transmission electron microscopy (TEM) and x-ray diffractometry (XRD) that are important for the characterization of materials. The edition has been updated to cover important technical developments, including the remarkable recent improvement in resolution of the TEM, and all chapters have been updated and revised for clarity. A new chapter on high resolution STEM methods has been added. Each chapter includes a set of problems to illustrate principles, and the extensive Appendix includes laboratory exercises. In englischer Sprache. 758 pages. 3,3 x 16 x 23,3 cm Auflage: 3rd ed. 2008. Corr. 2nd printing 2009.
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Vendeur : Librairie Chat, Beijing, Chine
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Edité par Springer Berlin Heidelberg, 2014
ISBN 10 : 3642433154 ISBN 13 : 9783642433153
Langue: anglais
Vendeur : moluna, Greven, Allemagne
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Edité par Springer Berlin Heidelberg, 2012
ISBN 10 : 3642297609 ISBN 13 : 9783642297601
Langue: anglais
Vendeur : moluna, Greven, Allemagne
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