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Evaluation du vendeur
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Unified Methods for VLSI Simulation and Test Generation (The Springer International Series in Engineering and Computer Science, 73)
Vendeur : HPB-Red, Dallas, TX, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 60,69
EUR 3,23 expédition vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierhardcover. Etat : Good. Connecting readers with great books since 1972! Used textbooks may not include companion materials such as access codes, etc. May have some wear or writing/highlighting. We ship orders daily and Customer Service is our top priority!
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Unified Methods for VLSI Simulation and Test Generation (The Springer International Series in Engineering and Computer Science, 73)
Vendeur : Goodwill of Silicon Valley, SAN JOSE, CA, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 4 sur 5 étoiles
EUR 64,23
EUR 3,44 expédition vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierEtat : acceptable. Supports Goodwill of Silicon Valley job training programs. The cover and pages are in Acceptable condition! Any other included accessories are also in Acceptable condition showing use. Use can include some highlighting and writing, page and cover creases as well as other types visible wear such as cover tears discoloration, staining, marks, scuffs, etc. All pages intact.
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Unified Methods for VLSI Simulation and Test Generation (The Springer International Series in Engineering and Computer Science, 73)
Vendeur : Lucky's Textbooks, Dallas, TX, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 103,32
EUR 3,44 expédition vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
Ajouter au panierEtat : New.
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Unified Methods for VLSI Simulation and Test Generation:
Edité par Boston. Kluwer Academic, 1989
ISBN 10 : 0792390253 ISBN 13 : 9780792390251
Langue: anglais
Vendeur : avelibro OHG, Dinkelscherben, Allemagne
Membre d'association : BOEV
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 110
EUR 10 expédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panier8° , Hardcover/Pappeinband. Etat : Sehr gut. XII, 148 Seiten. Mit Illustrationen. Ausgetragenes Bibliotheksexemplar mit Inventaraufkleber auf Rücken und Vorsatz. Leihkarte in Tasche am Nachsatz. In sehr gutem Zustand. DE-10-19e Sprache: Englisch Gewicht in Gramm: 435.
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Unified Methods for VLSI Simulation and Test Generation (The Springer International Series in Engineering and Computer Science, 73)
Vendeur : Ria Christie Collections, Uxbridge, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 110,53
EUR 13,63 expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
Ajouter au panierEtat : New. In.
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Unified Methods for VLSI Simulation and Test Generation
Vendeur : Celler Versandantiquariat, Eicklingen, Allemagne
Membre d'association : GIAQ
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 32
EUR 38 expédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierKluwer, Boston, 1989. XII, 148 pages with some graphics, hard cover----former library book in good condition- 428 Gramm.
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EUR 92,27
EUR 48,99 expédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
Ajouter au panierGebunden. Etat : New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt.
