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Metal-dielectric Interfaces in Gigascale Electronics: Thermal and Electrical Stability - Couverture rigide

 
9781461418115: Metal-dielectric Interfaces in Gigascale Electronics: Thermal and Electrical Stability
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This book presents a unified approach to understanding the diverse phenomena observed at metal-dielectric interfaces. It offers a clear account of the relationship between interface science and its applications in interconnect structures.

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9781493943081: Metal-Dielectric Interfaces in Gigascale Electronics: Thermal and Electrical Stability

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ISBN 10 :  1493943081 ISBN 13 :  9781493943081
Editeur : Springer, 2016
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  • 9781461418139: Metal-Dielectric Interfaces in Gigascale Electronics: Thermal and Electrical Stability

    Springer, 2011
    Couverture souple

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"He, Ming", "Lu, Toh-Ming"
Edité par Springer (2011)
ISBN 10 : 1461418119 ISBN 13 : 9781461418115
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He, Ming; Lu, Toh-Ming
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He, Ming; Lu, Toh-Ming
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Toh-Ming Lu
ISBN 10 : 1461418119 ISBN 13 : 9781461418115
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Description du livre Buch. Etat : Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -Metal-dielectric interfaces are ubiquitous in modern electronics. As advanced gigascale electronic devices continue to shrink, the stability of these interfaces is becoming an increasingly important issue that has a profound impact on the operational reliability of these devices. In this book, the authors present the basic science underlying the thermal and electrical stability of metal-dielectric interfaces and its relationship to the operation of advanced interconnect systems in gigascale electronics. Interface phenomena, including chemical reactions between metals and dielectrics, metallic-atom diffusion, and ion drift, are discussed based on fundamental physical and chemical principles. Schematic diagrams are provided throughout the book to illustrate interface phenomena and the principles that govern them. Metal-Dielectric Interfaces in Gigascale Electronics provides a unifying approach to the diverse and sometimes contradictory test results that are reported in the literature on metal-dielectric interfaces. The goal is to provide readers with a clear account of the relationship between interface science and its applications in interconnect structures. The material presented here will also be of interest to those engaged in field-effect transistor and memristor device research, as well as university researchers and industrial scientists working in the areas of electronic materials processing, semiconductor manufacturing, memory chips, and IC design. 164 pp. Englisch. N° de réf. du vendeur 9781461418115

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Ming He|Toh-Ming Lu
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Toh-Ming Lu
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(Einbeck, Allemagne)
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Description du livre Buch. Etat : Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Metal-dielectric interfaces are ubiquitous in modern electronics. As advanced gigascale electronic devices continue to shrink, the stability of these interfaces is becoming an increasingly important issue that has a profound impact on the operational reliability of these devices. In this book, the authors present the basic science underlying the thermal and electrical stability of metal-dielectric interfaces and its relationship to the operation of advanced interconnect systems in gigascale electronics. Interface phenomena, including chemical reactions between metals and dielectrics, metallic-atom diffusion, and ion drift, are discussed based on fundamental physical and chemical principles. Schematic diagrams are provided throughout the book to illustrate interface phenomena and the principles that govern them. Metal-Dielectric Interfaces in Gigascale Electronics provides a unifying approach to the diverse and sometimes contradictory test results that are reported in the literature on metal-dielectric interfaces. The goal is to provide readers with a clear account of the relationship between interface science and its applications in interconnect structures. The material presented here will also be of interest to those engaged in field-effect transistor and memristor device research, as well as university researchers and industrial scientists working in the areas of electronic materials processing, semiconductor manufacturing, memory chips, and IC design. N° de réf. du vendeur 9781461418115

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He, Ming/ Lu, Toh-Ming
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ISBN 10 : 1461418119 ISBN 13 : 9781461418115
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Revaluation Books
(Exeter, Royaume-Uni)
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Description du livre Hardcover. Etat : Brand New. 2012 edition. 160 pages. 6.25x9.25x0.50 inches. In Stock. N° de réf. du vendeur x-1461418119

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He, Ming F.; Lu, Toh-Ming
ISBN 10 : 1461418119 ISBN 13 : 9781461418115
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Description du livre Etat : New. This book presents a unified approach to understanding the diverse phenomena observed at metal-dielectric interfaces. It offers a clear account of the relationship between interface science and its applications in interconnect structures. Series: Springer Series in Materials Science. Num Pages: 160 pages, biography. BIC Classification: PNRH; TDPB; TGMB; TJFD. Category: (P) Professional & Vocational. Dimension: 243 x 169 x 14. Weight in Grams: 386. . 2011. 2012th Edition. Hardcover. . . . . N° de réf. du vendeur V9781461418115

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Ming He
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Description du livre Etat : New. PRINT ON DEMAND Book; New; Fast Shipping from the UK. No. book. N° de réf. du vendeur ria9781461418115_lsuk

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He, Ming; Lu, Toh-Ming
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