Synopsis
The volumes in this series plot progress and innovation in optical and electron microscopy at a fundamental level. The series also describes relevant applications for microscopic techniques in biology, materials science research and industrial inspection. The book also covers material of interest to those in the field of microscope instrumentation.
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Résultats de recherche pour Advances in Optical and Electron Microscopy
Image d'archives
Advances in Optical and Electron Microscopy, Volume 12.
Edité par
London/New York, Academic Press, 1991
ISBN 10 : 0120299127
ISBN 13 : 9780120299126
Ancien ou d'occasion
Couverture rigide
Edition originale
Vendeur : Antiquariat Smock, Freiburg, Allemagne
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Etat : Gut. Formateinband: Pappband / gebundene Ausgabe XII, 363 S. (24 cm) 1st Edition; (With many figures); Sauberes Exemplar aus Institutsbibliothek mit den üblichen Schildchen und Stempeln; sonst tadellos. Sprache: Englisch Gewicht in Gramm: 800 [Stichwörter: Invention of the Electron Fresnel Interference Biprism, Electron Image Plane Off-axis Holography of Atomic Structures, Magnetic Through-the-lens detection in electron microscopy and spectroscopy, Advances in voltage-contrast detectors in scanning electron microscopes, Scanning Near-field optical microscopy (SNOM), Microscopic thermal wave non-destructive testing]. N° de réf. du vendeur 10239
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