Synopsis
This special volume of Advances in Imaging and Electron Physics details the current theory, experiments, and applications of neutron and x-ray optics and microscopy for an international readership across varying backgrounds and disciplines. Edited by Dr. Ted Cremer, these volumes attempt to provide rapid assimilation of the presented topics that include neutron and x-ray scatter, refraction, diffraction, and reflection and their potential application.
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Résultats de recherche pour Neutron and X-Ray Microscopy
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Advances in Imaging and Electron Physics
Edité par
Elsevier Science & Technology, Academic Press, 2012
ISBN 10 : 0123944228
ISBN 13 : 9780123944221
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Advances in Imaging and Electron Physics: Part A: Volume 172
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Advances In Imaging And Electron Physics
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Advances in Imaging and Electron Physics: Part A: Volume 172
Edité par
Academic Press 2012-07-13, 2012
ISBN 10 : 0123944228
ISBN 13 : 9780123944221
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Advances In Imaging And Electron Physics
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Advances in Imaging and Electron Physics : Part A
Edité par
Elsevier Science & Technology, Academic Press, 2012
ISBN 10 : 0123944228
ISBN 13 : 9780123944221
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Advances In Imaging And Electron Physics
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Advances in Imaging and Electron Physics: Vol 142
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Hardcover. Etat : Brand New. 1st edition. 696 pages. 9.50x6.50x1.50 inches. In Stock. N° de réf. du vendeur __0123944228
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