Synopsis
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Developments in Integrated Circuit Testing
Edité par
London: Academic Press, 1987
ISBN 10 : 0124967353
ISBN 13 : 9780124967359
Ancien ou d'occasion
Couverture rigide
Vendeur : Zubal-Books, Since 1961, Cleveland, OH, Etats-Unis
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Etat : Good. 440 pp., hardcover, ex library, else text and binding clean and tight. - If you are reading this, this item is actually (physically) in our stock and ready for shipment once ordered. We are not bookjackers. Buyer is responsible for any additional duties, taxes, or fees required by recipient's country. N° de réf. du vendeur ZB615902
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Expédition nationale : Etats-Unis
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Developments in Integrated Circuit Testing (Perspectives in Computing)
Edité par
Academic Press Inc.,U.S., 1987
ISBN 10 : 0124967353
ISBN 13 : 9780124967359
Ancien ou d'occasion
Couverture rigide
Vendeur : Ammareal, Morangis, France
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
Hardcover. Etat : Bon. Ancien livre de bibliothèque. Traces de pliures sur la couverture. Traces d'usure sur la couverture. Couverture différente. Edition 1987. Ammareal reverse jusqu'à 15% du prix net de cet article à des organisations caritatives. ENGLISH DESCRIPTION Book Condition: Used, Good. Former library book. Traces of creases on the cover. Signs of wear on the cover. Different cover. Edition 1987. Ammareal gives back up to 15% of this item's net price to charity organizations. N° de réf. du vendeur E-065-919
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