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Synopsis
The purpose of this book is to introduce the basic concepts of test and design-for-test (DFT), and to then address the application of these concepts with an eye toward the trade-offs of the engineering budgets (area, frequency, power, etc.), the business drivers, and the cost drivers. This practical guide on the test and Design-for-test topics has been developed along the lines of a just what you need to know and how to do it guide that explains the topic, the trade-offs, and relates the topic to the design flow.
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À propos de l?auteur
AL CROUCH began his testing career repairing meteorological equipment for the U.S. Air Force. He later earned BSEE and MSEE degrees from the University of Kentucky. He has worked for Texas Instruments, Digital Equipment Corporation, and Motorola, focusing on design-for-test, test automation, and computer aided testing. He has been issued nine U.S. Patents and is an experienced trainer and conference presenter.
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Design-for-Test for Digital IC's and Embedded Core Systems
Edité par
Pearson Education, Limited, 1999
ISBN 10 : 0130848271
ISBN 13 : 9780130848277
Ancien ou d'occasion
Couverture souple
Vendeur : Better World Books Ltd, Dunfermline, Royaume-Uni
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Etat : Good. Ships from the UK. Former library book; may include library markings. Used book that is in clean, average condition without any missing pages. N° de réf. du vendeur 13275825-20
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Design-for-Test for Digital IC's and Embedded Core Systems
Edité par
Pearson Education, Limited, 1999
ISBN 10 : 0130848271
ISBN 13 : 9780130848277
Ancien ou d'occasion
Couverture souple
Vendeur : Better World Books: West, Reno, NV, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
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Design-For-Test for Digital Ic's & Embedded Core Systems
Edité par
Prentice Hall, 1999
ISBN 10 : 0130848271
ISBN 13 : 9780130848277
Ancien ou d'occasion
Couverture rigide
Vendeur : Swan Trading Company, GEORGETOWN, TX, Etats-Unis
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hardcover. Etat : Very Good. Disk included. Hardcover shows only light cover wear. Text is unmarked and binding tight. Ships FAST! N° de réf. du vendeur 2309020070
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Design-For-Test for Digital Ic's Embedded Core Systems
Vendeur : Toscana Books, AUSTIN, TX, Etats-Unis
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Paperback. Etat : new. Excellent Condition.Excels in customer satisfaction, prompt replies, and quality checks. N° de réf. du vendeur Scanned0130848271
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Design-For-Test for Digital Ic's & Embedded Core Systems
Vendeur : BennettBooksLtd, North Las Vegas, NV, Etats-Unis
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hardcover. Etat : New. In shrink wrap. Looks like an interesting title! N° de réf. du vendeur Q-0130848271
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