Atom Probe Field Ion Microscopy - Couverture rigide

Miller, M. K.; Cerezo, A.; Hetherington, M. G.; Smith FRS, G. D. W.

 
9780198513872: Atom Probe Field Ion Microscopy
Couverture rigide
ISBN 10 : 0198513879 ISBN 13 : 9780198513872
Editeur : Oxford University Press, 1996

Synopsis

This book provides a definitive account of the theory, practice and applications of atom probe field ion microscopy (APFIM). The APFIM technique provides a unique method for observing and chemically identifying single atoms on solid surfaces. Recent advances in the method,which are largely due to the present authors, now permit the atomic-scale chemistry of a solid specimen to be recognised in three dimensions. As a result of these developments, new and exciting applications are rapidly emerging in the field of material science, surface science, and catalysis. The book is a state-of-the art account of this important field, and is intended for a graduate-level readership.

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À propos de l?auteur

Hetherington - deceased

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Éditeur
Oxford University Press
Date d'édition
1996
Langue
anglais
ISBN 10 
0198513879
ISBN 13 
9780198513872
Reliure
Relié
Nombre de pages
520
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non disponible
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