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Characterisation of crystal growth defects by X-ray methods (NATO advanced study institutes series) - Couverture rigide
Synopsis
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Characterization of Crystal Growth Defects by X-Ray Methods
Edité par
Springer, 1981
ISBN 10 : 0306406284
ISBN 13 : 9780306406287
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Characterization of Crystal Growth Defects by X-Ray Methods NATO Science Series B:, 63
Edité par
Springer, 1980
ISBN 10 : 0306406284
ISBN 13 : 9780306406287
Ancien ou d'occasion
Couverture rigide
Vendeur : books4less (Versandantiquariat Petra Gros GmbH & Co. KG), Welling, Allemagne
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
gebundene Ausgabe. Etat : Gut. 589 Seiten Das hier angebotene Buch stammt aus einer teilaufgelösten Bibliothek und kann die entsprechenden Kennzeichnungen aufweisen (Rückenschild, Instituts-Stempel.); der Buchzustand ist ansonsten ordentlich und dem Alter entsprechend gut. Original-Schutzumschlag vorhanden (siehe Foto). In ENGLISCHER Sprache. Sprache: Englisch Gewicht in Gramm: 1125. N° de réf. du vendeur 2161981
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