Scanning Electron Microscopy and X-ray Microanalysis: A Text for Biologists, Materials Scientists and Geologists - Couverture rigide

Goldstein, Joseph I.; Newbury, Dale E.; Echlin, Patrick ; Joy, D. C.

9780306441752: Scanning Electron Microscopy and X-ray Microanalysis: A Text for Biologists, Materials Scientists and Geologists

Couverture rigide

ISBN 10 : 0306441756 ISBN 13 : 9780306441752

Editeur : Kluwer Academic / Plenum Publishers, 1992

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Book by Goldstein Joseph Newbury Dale E Echlin Patrick Joy

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�diteur: Kluwer Academic / Plenum Publishers
Date d'�dition: 1992
Langue: anglais
ISBN 10: 0306441756
ISBN 13: 9780306441752
Reliure: Reli�
Num�ro d'�dition: 2
Nombre de pages: 800
Coordonn�es du fabricant: non disponible
Personne responsable: CMN Printpool Inh. Mathis Neumann
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Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis: A Text for Biologists, Materials Scientists, and Geologists

Goldstein, Joseph, Newbury, Dale E., Echlin, Patrick, Joy, David C., Romig Jr., Alton D., Lyman, Charles E., Fiori, Charles, Lifshin, Eric

Edit� par Springer, 1992

ISBN 10 : 0306441756 ISBN 13 : 9780306441752

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Lifshin, Eric,Fiori, Charles,Lyman, Charles E.,Romig Jr., Alton D.,Joy, David C.,Echlin, Patrick,Newbury, Dale E.,Goldstein, Joseph

Edit� par Springer, 1992

ISBN 10 : 0306441756 ISBN 13 : 9780306441752

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Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis: A Text for Biologists, Materials Scientists, and Geologists

Joseph Goldstein; Dale E. Newbury; Patrick Echlin; David C. Joy; Alton D. Romig Jr.; Charles E. Lyman; Charles Fiori; Eric Lifshin

Edit� par Springer, 1992

ISBN 10 : 0306441756 ISBN 13 : 9780306441752

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Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis: A Text for Biologists, Materials Scientists, and Geologists (Second Edition)

Goldstein, Joseph I.; Newbury, Dale E.; Echlin, Patrick; Joy, David C.; Romig, Alton D. Jr.; Lyman, Charles E.; Fiori, Charles; Lifshin, Eric

Edit� par Plenum Press, NY, 1992

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Etat : Very Good. Hardcover, [xviii], 820 pages. Very Good condition in a Good dust jacket. Second edition. Size 10.25"x7.5". "The authors, emphasizing the practical aspects of the techniques described, discuss user-controlled functions of scanning electron microscope and electron microprobe electron optics, the characteristics of electron-specimen interactions, image formation and interpretation, and x-ray spectrometry." Book has moderate handling/shelfwear. Previous owner's name on front fly. Binding is tight. Text is clean and unmarked. Dust jacket has edgewear and sunned spine. N� de r�f. du vendeur 009504

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Joseph Goldstein; Dale E. Newbury; Patrick Echlin; David C. Joy; Alton D. Romig Jr.; Charles E. Lyman; Charles Fiori; Eric Lifshin

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Jun 01, 1992. Etat : gebraucht; wie neu. Hardcover mit Schutzumschlag, dieser mit minimalen Standspuren, Buch selbst ist ungebraucht, 2. Auflage. N� de r�f. du vendeur 573-2-38

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Scanning Electron Microscopy and X-ray Microanalysis

Joseph I. Goldstein, Dale E. Newbury, Patrick Echlin, D.C. Joy

Edit� par Kluwer Academic Publishers Group, 1992

ISBN 10 : 0306441756 ISBN 13 : 9780306441752

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Vendeur : Buchpark, Trebbin, Allemagne

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Vendeur : Solr Books, Lincolnwood, IL, Etats-Unis

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