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Synopsis
Mathematical Techniques in XRay Spectrometry: Research in the Quantitative Analysis of Individual Particles by XRay Fluorescence Spectrometry (M. Lankosz et al.). Analysis of Light Elements by XRay Spectrometry: XRFA of Carbon in Steels (F. Weber et al.). XRS Techniques and Instrumentation: Diffraction Peaks in XRay Spectroscopy (R.G.Tissot, R.P. Goehner). OnLine, Industrial, and Other Applications of XRS: Application of XRF in the Aluminum Industry (F.R. Feret). XRay Characterization of Thin Films: Grazing Incidence XRay Characterization of Materials (D.K. Bowen, M. Wormington). WholePattern Fitting, Phase Analysis by Diffraction Methods: Phase Identification Using WholePattern Matching (D.K. Smith et al.). Polymer Applications of XRD. HighTemperature and NonAmbient Applications of XRD. Stress and Strain Determination by Diffraction Methods, Peak Broadening Analysis. XRD Techniques and Instrumentation. 71 additional articles. Index.
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Advances in X-Ray Analysis, Vol. 36
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Springer, 1993
ISBN 10 : 0306445719
ISBN 13 : 9780306445712
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Advances in X-Ray Analysis, Vol. 36
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Advances in X-Ray Analysis
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SPRINGER NATURE Aug 1993, 1993
ISBN 10 : 0306445719
ISBN 13 : 9780306445712
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Advances in X-ray Analysis: v. 36: Proceedings of the Forty-first Annual Conference Held in Colorado Springs, Colorado, August 3-7, 1992
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Kluwer Academic Publishers Group, 1993
ISBN 10 : 0306445719
ISBN 13 : 9780306445712
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Advances in X-Ray Analysis. Vol.36
Edité par
Springer, Berlin, 1993
ISBN 10 : 0306445719
ISBN 13 : 9780306445712
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Gebunden. Etat : New. Mathematical Techniques in XRay Spectrometry: Research in the Quantitative Analysis of Individual Particles by XRay Fluorescence Spectrometry (M. Lankosz et al.). Analysis of Light Elements by XRay Spectrometry: XRFA of Carbon in Steels (F. Weber et al.). X. N° de réf. du vendeur 897688001
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Advances in X-Ray Analysis
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Advances in X-Ray Analysis: Vol 36
Vendeur : Revaluation Books, Exeter, Royaume-Uni
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Hardcover. Etat : Brand New. 712 pages. 10.50x7.50x1.50 inches. In Stock. N° de réf. du vendeur x-0306445719
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Advances in X-Ray Analysis, Vol. 36
Edité par
Springer, 1993
ISBN 10 : 0306445719
ISBN 13 : 9780306445712
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Vendeur : Mispah books, Redhill, SURRE, Royaume-Uni
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