High Resolution X-Ray Diffractometry And Topography - Couverture souple

Bowen, D. K.; Tanner, Brian K.

 
9780367400637: High Resolution X-Ray Diffractometry And Topography
Couverture souple
ISBN 10 : 0367400634 ISBN 13 : 9780367400637
Editeur : CRC Press, 2019

Synopsis

The study and application of electronic materials has created an increasing demand for sophisticated and reliable techniques for examining and characterizing these materials. This comprehensive book looks at the area of x-ray diffraction and the modern techniques available for deployment in research, development, and production. It provides the theoretical and practical background for applying these techniques in scientific and industrial materials characterization. The main aim of the book is to map the theoretical and practical background necessary to the study of single crystal materials by means of high-resolution x-ray diffraction and topography. It combines mathematical formalisms with graphical explanations and hands-on practical advice for interpreting data.

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À propos de l?auteur

Bowen, D.K.; Tanner, Brian K.

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Éditeur
CRC Press
Date d'édition
2019
Langue
anglais
ISBN 10 
0367400634
ISBN 13 
9780367400637
Reliure
Broché
Nombre de pages
264
Coordonnées du fabricant
non disponible
Personne responsable
gpsr@libri.de
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