Radiation Detection Systems: Sensor Materials, Systems, Technology, and Characterization Measurements - Couverture souple

 
9780367707170: Radiation Detection Systems: Sensor Materials, Systems, Technology, and Characterization Measurements
Couverture souple
ISBN 10 : 0367707179 ISBN 13 : 9780367707170
Editeur : CRC Press, 2024

Synopsis

The book puts emphasis on sensor materials, detector structures, front electronics technology and their designs as well as system optimization for different applications. Also, it includes characterization measurements of the developed detection systems.

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À propos de l?auteur

Jan Iwanczyk is a consultant to Universities and private companies since July 2017. He has served as a President and CEO of DxRay, Inc., Northridge, California, from 2005 to 2017.

Krzysztof (Kris) Iniewski is managing R&D development activities at Redlen Technologies Inc., a detector company based in British Columbia, Canada. During his 15 years at Redlen he has managed development of highly integrated CZT detector products in medical imaging and security applications.

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Éditeur
CRC Press
Date d'édition
2024
Langue
anglais
ISBN 10 
0367707179
ISBN 13 
9780367707170
Reliure
Broché
Numéro d'édition
2
Nombre de pages
344
Éditeur
Iwanczyk Jan, Iniewski Krzysztof
Coordonnées du fabricant
non disponible
Personne responsable
non disponible

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