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Synopsis
This book presents scanning electron microscopy (SEM) fundamentals and applications for nanotechnology. It includes integrated fabrication techniques using the SEM, such as e-beam and FIB, and it covers in-situ nanomanipulation of materials. The book is written by international experts from the top nano-research groups that specialize in nanomaterials characterization. The book will appeal to nanomaterials researchers, and to SEM development specialists.
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Scanning Microscopy for Nanotechnology: Techniques and Applications
Edité par
Springer, 2007
ISBN 10 : 0387333258
ISBN 13 : 9780387333250
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Couverture rigide
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Scanning Microscopy For Nanotechnology Techniques And Applications
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Scanning Microscopy For Nanotechnology Techniques And Applications
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Scanning Microscopy For Nanotechnology Techniques And Applications
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Scanning Microscopy for Nanotechnology: Techniques and Applications
Edité par
Springer, 2006
ISBN 10 : 0387333258
ISBN 13 : 9780387333250
Ancien ou d'occasion
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SCANNING MICROSCOPY FOR NANOTECHNOLOGY: TECHNIQUES AND APPLICATIONS
Vendeur : Basi6 International, Irving, TX, Etats-Unis
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Scanning Microscopy for Nanotechnology
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Scanning Microscopy for Nanotechnology
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Scanning Microscopy for Nanotechnology
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Scanning Microscopy for Nanotechnology
Edité par
Springer New York, 2006
ISBN 10 : 0387333258
ISBN 13 : 9780387333250
Neuf
Couverture rigide
Vendeur : moluna, Greven, Allemagne
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Gebunden. Etat : New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Presents SEM fundamentals and applications for nanotechnologyIncludes integrated fabrication techniques using the SEM, such as e-beam and FIBCovers in-situ nanomanipulation of materialsWritten by international experts from t. N° de réf. du vendeur 5910046
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