Defect Analysis in Electron Microscopy - Couverture rigide

Loretto, Michael; Smallman, R. E.

 
9780412137600: Defect Analysis in Electron Microscopy
Couverture rigide
ISBN 10 : 0412137607 ISBN 13 : 9780412137600
Editeur : Chapman and Hall, 1976
Éditeur
Chapman and Hall
Date d'édition
1976
Langue
anglais
ISBN 10 
0412137607
ISBN 13 
9780412137600
Reliure
Relié
Nombre de pages
144
Coordonnées du fabricant
non disponible
Personne responsable
non disponible

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Editeur : Chapman and Hall, 1976
Couverture souple