Defect Analysis in Electron Microscopy - Couverture souple

Loretto, Michael; Smallman, R. E.

 
9780412137709: Defect Analysis in Electron Microscopy
Couverture souple
ISBN 10 : 0412137704 ISBN 13 : 9780412137709
Editeur : Chapman and Hall, 1976
Éditeur
Chapman and Hall
Date d'édition
1976
Langue
anglais
ISBN 10 
0412137704
ISBN 13 
9780412137709
Reliure
Broché
Nombre de pages
144
Coordonnées du fabricant
non disponible
Personne responsable
non disponible

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ISBN 10 :  047054760X ISBN 13 :  9780470547601
Editeur : Chapman and Hall
Couverture rigide