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Applied Measurement with jMetrik - Couverture souple

Meyer, J. Patrick

 
9780415531979: Applied Measurement with jMetrik

Synopsis

Applied Measurement with jMetrik reviews psychometric theory and describes how to use jMetrik to conduct a comprehensive psychometric analysis.

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À propos de l'auteur

J. Patrick Meyer is an associate professor in the Curry School of Education at the University of Virginia

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