Characterization of a High Frequency Probe Assembly for Integrated Circuit Measurements (Classic Reprint) - Couverture rigide

Jesch, Ramon L.

 
9780428697082: Characterization of a High Frequency Probe Assembly for Integrated Circuit Measurements (Classic Reprint)

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Edition présentée

ISBN 10 :  0428459153 ISBN 13 :  9780428459154
Editeur : Forgotten Books, 2018
Couverture souple