Synopsis
Applies the methods of modern quality to the testing of digital integrated circuits. Explains new paradigms and techniques ranging from SSI to high-level VLSI, and how to match testing methods to the design and physical layout of the device. Accounts for the change in the electronics industry from a
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Digital Integrated Circuit Testing from a Quality Perspective
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Digital Integrated Circuit Testing from a Quality Perspective
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Digital Integrated Circuit Testing from a Quality Perspective
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Springer, 1993
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ISBN 13 : 9780442006433
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Springer, 1993
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Digital Integrated Circuit Testing from a Quality Perspective (Electrical Engineering)
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Springer US, Springer Aug 1993, 1993
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