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Testing and Diagnosis of Analog Circuits and Systems - Couverture rigide

Liu, Ruey-Wen

 
9780442259327: Testing and Diagnosis of Analog Circuits and Systems
Couverture rigide
ISBN 10 : 0442259328 ISBN 13 : 9780442259327
Editeur : Kluwer Academic Publishers, 1991
  • ÉditeurKluwer Academic Publishers
  • Date d'édition1991
  • ISBN 10 0442259328
  • ISBN 13 9780442259327
  • ReliureRelié
  • Langueanglais
  • Numéro d'édition1
  • Nombre de pages284

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9780442259327: Testing and Diagnosis of Analog Circuits and Systems
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9781461597490: Testing and Diagnosis of Analog Circuits and Systems

Edition présentée

ISBN 10 :  1461597498 ISBN 13 :  9781461597490
Editeur : Springer-Verlag New York Inc., 2012
Couverture souple

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Liu, Ruey-Wen (editor)
Edité par Van Nostrand Reinhold Co, 1991
ISBN 10 : 0442259328 ISBN 13 : 9780442259327
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Edité par Van Nostrand Reinhold Co, 1991
ISBN 10 : 0442259328 ISBN 13 : 9780442259327
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Hardcover. Etat : Very Good. Ex-Library hardcover in very nice condition with the usual markings and attachments. Except for library markings, interior clean and unmarked. Tight binding. N° de réf. du vendeur TSTC2380383

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ISBN 10 : 0442259328 ISBN 13 : 9780442259327
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pictorial hard cover. No Jacket. reprint. Includes bibliographical references and index. Ill. ; 24 cm. XIV, 284 pages VG. Light shelf wear to covers, overall very good condition. N° de réf. du vendeur 11366

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Liu, Ruey-Wen (editor)
Edité par Springer, 1991
ISBN 10 : 0442259328 ISBN 13 : 9780442259327
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Vendeur : Mispah books, Redhill, SURRE, Royaume-Uni

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