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Statistical Regression With Measurement Error - Couverture rigide

 
9780470711064: Statistical Regression With Measurement Error

Synopsis

Providing a general survey of the theory of measurement error models, including the functional, structural, and ultrastructural models, this book is written in the of the Kendall and Stuart Advanced Theory of Statistics set and, like that series, includes exercises at the end of the chapters. The goal is to emphasize the ideas and practical implications of the theory in a style that does not concentrate on the theorem-proof format.

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À propos de l?auteur

Chi-Lun Cheng and John W. Van Ness are the authors of Statistical Regression with Measurement Error: Kendall's Library of Statistics 6, published by Wiley.

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9780340614617: Statistical Regression With Measurement Error

Edition présentée

ISBN 10 :  0340614617 ISBN 13 :  9780340614617
Editeur : Hodder Arnold, 1999
Couverture rigide

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Chi-Lun Cheng
Edité par Wiley, 2010
ISBN 10 : 047071106X ISBN 13 : 9780470711064
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Edité par Wiley, 2010
ISBN 10 : 047071106X ISBN 13 : 9780470711064
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Edité par John Wiley & Sons, 2010
ISBN 10 : 047071106X ISBN 13 : 9780470711064
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Edité par Wiley, 2010
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