Statistical Regression With Measurement Error - Couverture rigide

Cheng, Chi-Lun; Van Ness, John W.

 
9780470711064: Statistical Regression With Measurement Error
Couverture rigide
ISBN 10 : 047071106X ISBN 13 : 9780470711064
Editeur : John Wiley & Sons Inc, 1999

Synopsis

Providing a general survey of the theory of measurement error models, including the functional, structural, and ultrastructural models, this book is written in the of the Kendall and Stuart Advanced Theory of Statistics set and, like that series, includes exercises at the end of the chapters. The goal is to emphasize the ideas and practical implications of the theory in a style that does not concentrate on the theorem-proof format.

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À propos de l?auteur

Chi-Lun Cheng and John W. Van Ness are the authors of Statistical Regression with Measurement Error: Kendall's Library of Statistics 6, published by Wiley.

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Éditeur
John Wiley & Sons Inc
Date d'édition
1999
Langue
anglais
ISBN 10 
047071106X
ISBN 13 
9780470711064
Reliure
Relié
Nombre de pages
282
Coordonnées du fabricant
non disponible
Personne responsable
non disponible

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