Flow Measurement Methods and Applications - Couverture rigide

Hardy, Jim E.; Hylton, Jim O.; McKnight, Tim E.; Remenyik, Carl J.; Ruppel, Francis R.

Couverture rigide

ISBN 10 : 0471245097 ISBN 13 : 9780471245094

Editeur : Wiley-Interscience, 1999

Synopsis

Die Durchflußmessung ist eine wichtige Komponente der Verfahrenssteuerung in der Industrie. Dieses Buch bietet Lesern die Möglichkeit, ihre eigenen Ansätze für aktuelle Fließanwendungen zu entwickeln. Mit wertvollen Informationen für all jene, die über bestehende Hardware hinaus individuelle Lösungen für ihre Fließprobleme finden müssen. Es gibt eine kurze Einführung in die Durchflußmessung, in Terminologie und Definitionen, in Eigenschaften, Einheiten und Klassifikation von Techniken und Meßinstrumenten. Außerdem werden anspruchsvolle Anwendungen behandelt, die Meßprobleme und Lösungen verdeutlichen sowie Grundlagen der Meßtechnik inklusive dazugehöriger Apparatur. (02/99)

A propos du livre

À propos de l'auteur

J. E. HARDY has been a research staff member at the Oak Ridge National Laboratory in Oak Ridge, Tennessee, for over twenty years, concentrating in instrumentation and controls with an emphasis on the measurement of flow in harsh environments.

J. O. HYLTON is a researcher at the Instrumentation and Controls Division at the Oak Ridge National Laboratory. He has worked extensively in the area of thermal and fluid mechanics, including the development of flow measurement instrumentation.

T. E. McKNIGHT has worked for ten years at the Oak Ridge National Laboratory, predominantly in the measurement and calibration of fluid flow and other physical processes.

C. J. REMENYIK is Professor Emeritus at the University of Tennessee, Engineering Science, and Adjunct Researcher at the Oak Ridge National Laboratory. He has also worked for the aerospace industry.

F. R. RUPPEL is a senior instrumentation and controls engineer at Thermatrix Inc. in Knoxville, Tennessee. He has held engineering positions at Union Carbide in South Charleston, West Virginia, the Oak Ridge National Laboratory, and SEMATECH, the semiconductor consortium in Austin, Texas.

Détails de l'édition

• Éditeur: Wiley-Interscience
• Date d'édition: 1999
• Langue: anglais
• ISBN 10: 0471245097
• ISBN 13: 9780471245094
• Reliure: Relié
• Nombre de pages: 272
• Coordonnées du fabricant: non disponible
• Personne responsable: non disponible