Reliability and Degradation: Semiconductor Devices and Circuits - Couverture rigide

Howes, M. J.; Morgan, David Vernon

 
9780471280286: Reliability and Degradation: Semiconductor Devices and Circuits

Synopsis

This book has hardback covers.Ex-library,With usual stamps and markings,In good all round condition.No dust jacket.

Les informations fournies dans la section « Synopsis » peuvent faire référence à une autre édition de ce titre.