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Mos Metal Oxide Semiconductor Physics and Technology - Couverture souple

Nicollian, E. H.; Brews, J. R.

 
9780471430797: Mos Metal Oxide Semiconductor Physics and Technology
Couverture souple
ISBN 10 : 047143079X ISBN 13 : 9780471430797
Editeur : Wiley-Interscience, 2002

Synopsis

Explains the theoretical and experimental foundations of the measurement of the electrical properties of the MOS system and the technology for controlling its properties. Emphasizes the silica and the silica-silicon interface. Provides a critical assessment of the literature, corrects incomplete or incorrect theoretical formulations, and gives critical comparisons of measurement methods. Contains information needed to grow an oxide, make an MOS capacitor array, and fabricate an integrated circuit with optimal performance and stability.

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À propos de l'auteur

E. H. Nicollian (deceased) was a?researcher at AT&T Bell Laboratories, Murray Hill, NJ.

John R. Brews, currently Professor of Electrical Engineering, University of Arizona, Tucson AZ, was a researcher at AT&T Bell Laboratories, Murray Hill, NJ.

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Éditeur
Wiley-Interscience
Date d'édition
2002
Langue
anglais
ISBN 10 
047143079X
ISBN 13 
9780471430797
Reliure
Broché
Nombre de pages
928
Coordonnées du fabricant
non disponible
Personne responsable
non disponible