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Semiconductor Device and Failure Analysis: Using Photon Emission Microscopy - Couverture rigide

 
9780471492405: Semiconductor Device and Failure Analysis: Using Photon Emission Microscopy

Synopsis

Integrierte Schaltkreise werden immer komplexer - deshalb wird es zunehmend schwieriger, Fehler schnell und treffsicher aufzuspüren. Die Photonenemissionsmikroskopie (PEM) ist eine Analysetechnik auf physikalischer Grundlage, die sich als Fehlererkennungsmethode bewährt hat. Dieser Band erläutert alle Aspekte dieser Methode, von der instrumentellen Ausrüstung über spezifische Details der Mikroskope bis hin zu Merkmalen der Photonenemission unter verschiedenen Bedingungen. (11/00)

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Wai Kin Chim is the author of Semiconductor Device and Failure Analysis: Using Photon Emission Microscopy, published by Wiley.

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Chim, Wai Kin
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ISBN 10 : 047149240X ISBN 13 : 9780471492405
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WK Chim
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Edité par Wiley, 2000
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Chim, Wai Kin Wai Kin Chim,
Edité par Wiley -, 2000
ISBN 10 : 047149240X ISBN 13 : 9780471492405
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Chim, Wai Kin
Edité par Wiley, 2000
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WK Chim
Edité par John Wiley & Sons, 2000
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Gebunden. Etat : New. This reference details the principles of design, calibration, and use of photon emission microscopy (PEM) as a fault localization technique used for analyzing device reliability and failure. (SciTech Book News Vol. 25, No. 2 June 2001)The diminishing . N° de réf. du vendeur 446916852

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