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Synopsis
Integrierte Schaltkreise werden immer komplexer - deshalb wird es zunehmend schwieriger, Fehler schnell und treffsicher aufzuspüren. Die Photonenemissionsmikroskopie (PEM) ist eine Analysetechnik auf physikalischer Grundlage, die sich als Fehlererkennungsmethode bewährt hat. Dieser Band erläutert alle Aspekte dieser Methode, von der instrumentellen Ausrüstung über spezifische Details der Mikroskope bis hin zu Merkmalen der Photonenemission unter verschiedenen Bedingungen. (11/00)
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Wai Kin Chim is the author of Semiconductor Device and Failure Analysis: Using Photon Emission Microscopy, published by Wiley.
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Semiconductor Device and Failure Analysis Using Photon Emmission Microscopy: Using Photon Emissing Microscopy (Quality and Reliability Engineering Series)
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Wiley, 2000
ISBN 10 : 047149240X
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Semiconductor Device and Failure Analysis : Using Photon Emission Microscopy
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Semiconductor Device and Failure Analysis : Using Photon Emission Microscopy
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Semiconductor Device and Failure Analysis - Using Photon Emmission Microscopy
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Semiconductor Device and Failure Analysis : Using Photon Emission Microscopy
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Semiconductor Device and Failure Analysis : Using Photon Emission Microscopy
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Semiconductor Device and Failure Analysis: Using Photon Emission Microscopy (Quality and Reliability Engineering)
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Wiley, 2000
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Semiconductor Device and Failure Analysis: Using Photon Emission Microscopy (Quality and Reliability Engineering)
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ISBN 10 : 047149240X
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Semiconductor Device and Failure Analysis : Using Photon Emission Microscopy
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Semiconductor Device Analysis Using Photon Emission Microscopy
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John Wiley & Sons, 2000
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Gebunden. Etat : New. This reference details the principles of design, calibration, and use of photon emission microscopy (PEM) as a fault localization technique used for analyzing device reliability and failure. (SciTech Book News Vol. 25, No. 2 June 2001)The diminishing . N° de réf. du vendeur 446916852
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