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Physical Aspects of Electron Microscopy and Microbeam Analysis
Edité par
John Wiley & Sons Ltd, U.S.A., 1975
ISBN 10 : 0471790206
ISBN 13 : 9780471790204
Ancien ou d'occasion
Couverture rigide
Edition originale
Vendeur : Charles Berry, Bookseller, Lakeport, CA, Etats-Unis
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Hardcover. Etat : Very Good. Etat de la jaquette : Good. 1st Edition. Large hardcover in excellent condition: slight handling, owner bookplate on the front endpaper, slight cloth indentation otherwise unmarked. The dust jacket is good with small corner tears, slight spine fading, small green indentation, and is protected by a new, clear, removeable cover. 474 pages, with advanced information throughout. [3.2 lbs]. Book. N° de réf. du vendeur 067402
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Expédition nationale : Etats-Unis
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Physical Aspects of Electron Microscopy and Microbeam Analysis
Edité par
John Wiley & Sons Ltd, 1975
ISBN 10 : 0471790206
ISBN 13 : 9780471790204
Ancien ou d'occasion
Couverture rigide
Vendeur : Anybook.com, Lincoln, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
Etat : Fair. This is an ex-library book and may have the usual library/used-book markings inside.This book has hardback covers. With owner's name inside cover. In fair condition, suitable as a study copy. No dust jacket. Please note the Image in this listing is a stock photo and may not match the covers of the actual item,1450grams, ISBN:0471790206. N° de réf. du vendeur 9786287
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Expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-Unis
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