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Physical Aspects of Electron Microscopy and Microbeam Analysis - Couverture rigide

Siegel, Benjamin Morton; Beaman, Donald R.

 
9780471790204: Physical Aspects of Electron Microscopy and Microbeam Analysis
Couverture rigide
ISBN 10 : 0471790206 ISBN 13 : 9780471790204
Editeur : John Wiley & Sons Ltd, 1975
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  • ÉditeurJohn Wiley & Sons Ltd
  • Date d'édition1975
  • ISBN 10 0471790206
  • ISBN 13 9780471790204
  • ReliureRelié
  • Nombre de pages488

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9780471790204: Physical Aspects of Electron Microscopy and Microbeam Analysis
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Siegel, Benjamin M
Edité par Wiley (1975)
ISBN 10 : 0471790206 ISBN 13 : 9780471790204
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Description du livre Etat : Good. Good condition. Good dust jacket. A copy that has been read but remains intact. May contain markings such as bookplates, stamps, limited notes and highlighting, or a few light stains. Bundled media such as CDs, DVDs, floppy disks or access codes may not be included. N° de réf. du vendeur R14O-00176

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Edité par Wiley (1975)
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Mispah books
(Redhill, SURRE, Royaume-Uni)
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Description du livre Etat : Good. Your purchase helps support Sri Lankan Children's Charity 'The Rainbow Centre'. Ex-library, so some stamps and wear, but in good overall condition. Our donations to The Rainbow Centre have helped provide an education and a safe haven to hundreds of children who live in appalling conditions. N° de réf. du vendeur Z1-K-016-00244

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