Ionizing Radiation Effects in Mos Devices and Circuits - Couverture rigide

 
9780471848936: Ionizing Radiation Effects in Mos Devices and Circuits
Couverture rigide
ISBN 10 : 047184893X ISBN 13 : 9780471848936
Editeur : Wiley-Interscience, 1989

Synopsis

The first comprehensive overview describing the effects of ionizing radiation on MOS devices, as well as how to design, fabricate, and test integrated circuits intended for use in a radiation environment. Also addresses process-induced radiation effects in the fabrication of high-density circuits. Reviews the history of radiation-hard technology, providing background information for those new to the field. Includes a comprehensive review of the literature and an annotated listing of research activities in radiation-hardness research.

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À propos de l?auteur

T. P. Ma and Paul V. Dressendorfer are the authors of Ionizing Radiation Effects in MOS Devices and Circuits, published by Wiley.

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Éditeur
Wiley-Interscience
Date d'édition
1989
Langue
anglais
ISBN 10 
047184893X
ISBN 13 
9780471848936
Reliure
Relié
Numéro d'édition
1
Nombre de pages
608
Éditeur
Ma T. P., Dressendorfer Paul V.
Coordonnées du fabricant
non disponible
Personne responsable
non disponible