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Ionizing Radiation Effects in Metal-oxide Semiconductor Devices and Circuits The first comprehensive overview describing the effects of ionizing radiation on MOS devices, as well as how to design, fabricate, and test integrated circuits intended for use in a radiation environment. Also addresses process--induced radiation effects in the fabrication of high--density circuits. Full description
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Présentation de l'éditeur :
The first comprehensive overview describing the effects of ionizing radiation on MOS devices, as well as how to design, fabricate, and test integrated circuits intended for use in a radiation environment. Also addresses process–induced radiation effects in the fabrication of high–density circuits. Reviews the history of radiation–hard technology, providing background information for those new to the field. Includes a comprehensive review of the literature and an annotated listing of research activities in radiation–hardness research.
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- ÉditeurWiley-Interscience
- Date d'édition1989
- ISBN 10 047184893X
- ISBN 13 9780471848936
- ReliureRelié
- Numéro d'édition1
- Nombre de pages608
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Ionizing Radiation Effects in Mos Devices and Circuits
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